In-Circuit

IFR, 85221 Dachau
Ingun Prüfmittelbau, 73467 Konstanz
Reinhardt System- und Messelectronic,
86911 Dießen-Obermühlhausen
Scorpion Technologies, 22453 Hamburg
Seica S.p.A / AS Testsysteme, 85757 Karlsfeld
SPEA, 35418 Buseck
Teradyne Assembly Test Division,
81673 München
uwe electronic, 82008 Unterhaching
52
Nr. 6 / 7.2.2003
ATS-KMFT 670
ATS-ICT 450
EASYTEST-Serie
UNITEST-Serie
Teststation
Teststation TSM
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336+1664 TTL
336+1664 TTL
1000
1024
1824
480
2112
2048
5120
1664
16000
2049/15056/31728
4608
2048
2048
7680
1408
●
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● ●
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●
●
● ●
●
1:1/1:4
●
●
●
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●
● 2aus8,1:1 ●
● 2 aus 16 ●
● ●
1:1
50
10
10
20
20
20
20
Timingsets
»on the fly« umschaltbar
4-Terminal-Messung
6-Terminal-Messung
analoge
Kelvinmessung
Messfunktionen
sonstige
mit anderen Baugruppen-Testverfahren kombinierbar
Prüfprogramme auch in anderen ICT-Baureihen einsetzbar
Prüfadapter auch in anderen ICT-Baureihen einsetzbar
Prüfprogramme auch in Flying Probern einsetzbar
Inline-fähige Komplettsysteme Tester/Handler lieferbar
proprietäre Lösungen
Boundary-Scan-Lösungen integriert
Third Party-Lösungen
Anzahl
programmierbare
Timing-Generation
450 15 128
450 15 128
100 2/10 40MB
100 1GHz
52 250 2000
52 250 2000
50
50 5/50 64
4
500
28
80
100 10 32x4 1
100 10 1024 250
80
10 256
1
200 10 256
1
200
5
64
3
200
5
64
3
max. Frequenz in MHz
Anzahl
Größe/Tiefe des Vektorspeichers in kBit
1:1
1:1
1:1
1:1
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●
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●
max. Patternrate/Vektorrate der digitalen Pins/Instrumente in MHz
PinPoint IC
PinPoint FD
MTS 500 Condor
CATE-256 FI
CT 250M
CT 250
5220
4250
analoge Pins/Boards mit digitalen Pins/Instrumenten kombinierbar
Tester-Baureihe
DiagnoSYS / Syntel Testsysteme,
82008 Unterhaching
Digitaltest, 76297 Stutensee-Blankenloch
Eltas, 79427 Eschbach
Dr. Eschke Elektronik, 12623 Berlin
Multiplex-Verhältnis der digitalen Kanäle
Hersteller/Vertrieb
analog gemultiplexte Kanäle
digital gemultiplexte Kanäle
In-Circuit-Tester
max. Anzahl der Prüfpins / Kanäle
Art des
Testers
max. analoge Prüfspannung in V
f Messtechnik
In-Circuit-Tester
MDA-Tester
kombinierter In-Circuit-/Funktionstester
digitale Instrumentierung
e-kompakt
24
●
1
250 ●
1
1
3 ●
3 ●
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www.elektroniknet.de
e-kompakt
●
60x60
4
6°
0,2
Acculogic / PB-Technik, 63450 Hanau
● 0,05
AutoPoint II
75x75
1
DiagnoSYS / Syntel Testsysteme,
82008 Unterhaching
●
MTS 500 Condor
40x50
4
0°/8°
0,2
Digitaltest, 76297 Stutensee-Blankenloch
●
Scorpion Technologies
1050x650
-24
frei
0,2
Scorpion Technologies, 22453 Hamburg
60x40 / 61x61 4 5/12, 4/12 ● 6 Zoll
Seica S.p.A / AS Testsysteme, 85757 Karlsfeld
SPEA 4040
68,5 x 61,0
4 2x15, 2x5 ●
0,1
SPEA, 35418 Buseck
● 0,18
Pilot
40,5x64
4
Teradyne Assembly Test Division,
Pilot LX
61x61
4 2x4, 2x12 ● 0,15
81673 München
www.elektroniknet.de
feste Prüfnadeln
Kontaktiermögfrei programmierbare Probes
lichkeit von unten
Prüfadapter
automatisierbar
analoger Funktionstest möglich
Boundary-Scan-Instrumentierung integrierbar
Inspektionsmöglichkeit von oben
AOI-Funktionen
Inspektionsmöglichkeit von unten
mit anderen Baugruppen-Testverfahren kombinierbar
Prüfprogramme auch in In-Circuit-Testern einsetzbar
min. Größe der Kontaktierflächen in mm
No-Fly-Zonen definierbar
Antastwinkel / Neigungswinkel
der Flying Probes in Grad
Tester-Baureihe
Anzahl der Flying Probes
Hersteller/Vertrieb
max. Baugruppengröße in cm
Flying-ProbeTester
f Messtechnik
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Nr. 6 / 7.2.2003
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