5 - Méthode de mesurage d`un écart de parallélisme : Contrôle d
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5 - Méthode de mesurage d`un écart de parallélisme : Contrôle d
2 - Etude des modèles géométriques -5-Contrôle parallélisme - Page 1/4 5 - Méthode de mesurage d'un écart de parallélisme : Contrôle d'une spécification d'orientation d'une surface 5-1 Définitions NORME La surface tolérancée doit être comprise entre deux plans parallèles distants de 0.2 mm (to) et parallèles à la référence spécifiée (plan de référence A). ECART DE PARALLELISME (e) AU SENS DE LA NORME La tolérance de parallélisme est respectée si e ≤ to e : écart de parallélisme : Distance entre le plan enveloppe à la surface réelle, parallèle au plan de référence et le point de la surface réelle le plus éloigné du plan enveloppe. 2 - Etude des modèles géométriques -5-Contrôle parallélisme - Page 2/4 5-2 Référence spécifiée plane et référence simulée associée Référence spécifiée Elément de référence (surface réelle) Référence simulée 5-2-1 Elément de référence Elément réel extrait de la surface réelle d'une pièce (par exemple : arête, surface, etc...) que l'on utilise en vue de remplir les conditions d'une référence. N.B. : Les éléments de référence étant sujets à des erreurs et à des écarts de fabrication, il peut être nécessaire de leur attribuer des tolérances géométriques de forme. 5-2-2 Référence spécifiée Elément géométrique idéal (tel que point, droite, plan) auquel se rapporte la cotation des éléments tolérancés. La référence spécifiée est qualifiée de simple, si elle résulte d'une association d'un élément géométrique à un seul élément de référence. La référence spécifiée est qualifiée de commune, si elle résulte d'une construction faite sur plusieurs éléments associés à plusieurs éléments de référence. Exemple : plan spécifié A Le plan associé A est le plan tangent à l'élément de référence situé du côté libre de la matière qui minimise le défaut de forme de l'élément de référence. système de références spécifiées Suite ordonnée de deux ou trois éléments idéaux spécifiées auquel se rapportent les éléments tolérancés. 5-2-3 Référence simulée Elément réel de forme adéquate suffisamment précise, en contact avec l'élément de référence, utilisé en vue de matérialiser la référence spécifiée (exemple : marbre de métrologie). La référence simulée est telle que la distance maximale qui la sépare de l'élément de référence soit la plus petite possible. Remarque : une référence simulée peut aussi être établie par un système enregistreur et calculateur qui définit les coordonnées d'une référence virtuelle idéale à partir des relevés de plusieurs des points de l'élément réel (critère d'association des moindres carrés, par exemple). 2 - Etude des modèles géométriques -5-Contrôle parallélisme - Page 3/4 5-3 Choix de la référence spécifiée Les éléments de référence réels possèdent des irrégularités inhérentes aux procédés de fabrication. Les surfaces peuvent prendre des formes générales diverses (convexes, concaves..) La norme indique que : - La référence spécifiée est le plan tangent situé du côté libre de la matière qui minimise l'écart de forme de l'élément de référence (surface réelle). - L'élément de référence (surface réelle) doit être disposé de telle façon que la distance maximale entre elle et la référence simulée soit la plus petite possible. Si l'appui de la surface réelle en question sur la surface de contact n'est pas stable, il faudra, par exemple, placer entre elles et à la distance maximale possible, des supports (2 ou 3) appropriés. 2 méthodes sont envisageables pour la définition de la référence spécifiée : - Plan enveloppe passant par trois points extrêmes de la matière. - Plan parallèle à un plan défini d'une façon arbitraire et passant par la plus grande saillie de la surface réelle (dans le cas d'une surface convexe). 2 - Etude des modèles géométriques -5-Contrôle parallélisme - Page 4/4 5-4 Méthode de mesure d'un écart de parallélisme Hypothèse : le marbre qui représente la référence simulée est considérée géométriquement parfait. Cas 1 : La pièce est posée directement sur le marbre Image du réel pour S1 : nuage de points. Image du réel pour S2 : points de contact de la surface réelle avec le marbre. Modèle associé à S2 : plan enveloppe passant par les points de contact. Caractéristique mesurée : ensemble de distances point/plan. Surface 1 S1 Modèle géométrique associé à la surface spécifiée Image de la ligne réelle Surface 2 S2 Modèle géométrique associé à la surface de référence Plan enveloppe de la surface de référence Cas 2 : (utilisée uniquement pour les surfaces convexes : La pièce est calée à l'aide de supports (2 ou 3 appuis ponctuels) Image du réel pour S1 : nuage de points. Image du réel pour S2 : points de contact de la surface réelle avec les supports et/ou le marbre. Modèle associé à S2 : plan parallèle à un plan enveloppe défini de manière arbitraire. Caractéristique mesurée : ensemble de distances points/plan (l'écart de parallélisme mesuré est la différence maximale des valeurs mesurées). Surface 1 S1 Relevé des écarts et interprétation Il faut déplacer le support de comparateur sur le marbre pour prendre des mesures sur toute la surface de la pièce. La direction de mesure est perpendiculaire au marbre. L'écart de parallélisme mesuré correspond à l'amplitude maximale de la déviation du comparateur (différence maximale des valeurs mesurées) Modèle géométrique associé à la surface spécifiée Image de la ligne réelle Surface 2 S2 Modèle géométrique associé à la surface de référence Plan // à un plan enveloppe défini de manière arbitraire.