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PRÉPARATION D’ÉCHANTILLONS
MISE EN ŒUVRE, EXPERTISE ET CONSEIL
PRÉPARATION POUR ANALYSE PHYSICO-CHIMIQUE
La préparation des échantillons avant analyse est une
étape incontournable et cruciale dans les activités
qu’offre SERMA TECHNOLOGIES.
Micro-section d’une puce dans BGA
obtenue par polissage métallographique
Chaque technologie a besoin d’une préparation
adaptée, et de mauvais choix entrainent des
conséquences importantes (résultats d’analyse non
représentatifs). Pour s’assurer que l’analyse sera
représentative de l’échantillon, il y a de nombreux
paramètres à prendre en compte pour définir la
meilleure solution de préparation de l’échantillon :
nature des matériaux, technique choisie pour l’analyse
de l’échantillon, objectif de l’étude, etc.
Afin de garantir des résultats reproductibles et fiables,
SERMA TECHNOLOGIES propose différents types de
préparations :
70µm
Micro-section d’une pile à combustible
obtenue par ultra-microtomie
Micro-section d’un film polymère
obtenue par Cross-Section Polisher
• Techniques de préparation mécanique :
– Polissage couche par couche type deprocessing
– Polissage biseauté type tripode
– Cryo-fracture
– Ultramicrotomie
• Technique de préparation abrasion ionique :
– Cross-Section Polisher [abrasion Ar+]
– Precision Ion Polisher System [abrasion Ar+]
– Faisceau d’ions focalisés [FIB (Ga+) / P-FIB (Xe+)]
• Techniques spécifiques aux matériaux divisés.
• Techniques de préparation par voie chimique.
50µm
Lame mince en vue transverse
obtenue par polissage tripode
70µm
Lame mince localisée en vue plane
obtenue par polissage tripode
Lame mince en vue transverse
obtenue par FIB
Quelques exemples de préparation d’échantillons mis en œuvre par SERMA TECHNOLOGIES et fournis à ses clients :
micro-sections pour MEB, EBSD, µFTIR, AFM SCM et/ou SSRM, nano-Auger, … ; échantillons biseautés pour
spectroscopie Raman, D-SIMS, … ; lames minces pour MET.
Travaux traités de manière
confidentielle
SERMA TECHNOLOGIES est agréée
au titre du Crédit Impôt Recherche
FABRICATION D’OUTILS DE TAILLE MICROMÉTRIQUE
SERMA TECHNOLOGIES utilise également ses
moyens de préparation d’échantillons pour
permettre la fabrication d’outils de taille
micrométrique : pointes AFM, pointes de tests
électriques, fentes optiques, …
(a)
(b)
5µm
5µm
Imagerie FIB d’une pointe AFM (a) avant et (b) après abrasion ionique
TYPE DE MATÉRIAUX
Matériaux variés tels que semi-conducteurs (Ge, Si, GaAs, …), matériaux pour les énergies alternatives, matériaux
composites, métaux et alliages, polymères (optoélectronique), substrats flexibles (microélectronique), nanoobjets (nanofils, nanotubes, poudres,…), ...
Panneau photovoltaïque
Puces sur substrat flexible
500µm
Diode laser montée sur puce GaAs
Pile à combustible
(MEA: Membrane Electrode Assembly)
Pignon de boîte de vitesse
SERMA GROUP EN RÉSUMÉ – FOR EXCELLENCE IN ELECTRONICS
TECHNOLOGIES ET
PROCÉDÉS
INGÉNIERIE DES
SYSTÈMES
EMBARQUÉS
MULTI
SECTEUR
MICROÉLECTRONIQUE
7 établissements
3 établissements
1 établissement
1 bureau
SÉCURITÉ
DES SYSTÈMES
4 Domaines d’Activités Stratégiques
CONTACT COMMERCIAL
CONTACT TECHNIQUE
CALL CENTER
Pascal MATOSEVIC
+33 (0)6 73 46 63 55
[email protected]
Karine ROUSSEAU
+33 (0) 6 01 35 77 04
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