hommel-etamic w55

SYSTEMES OPTIQUES LASER & TRAITEMENT DES MATERIAUX METROLOGIE INDUSTRIELLE SECURITE ROUTIERE DEFENSE & SYSTEMES CIVILS
W55
Caractéristiques techniques HOMMEL-ETAMIC W55
Principe de mesure
Profilomètre tactile d'états de surface
Classe de précision selon DIN 4772
1
Plage de mesure/résolution
± 8 µm/1 nm; ± 80 µm/10 nm; ± 400 µm/50 nm; ± 800 µm/100 nm
Filtre : longueur d’onde limite
0,025; 0,08; 0,25; 0,8; 2,5; 8 (mm); réglable par cut-off de –2 à +1;
variable de 0,001 à 80 par pas de 0,001
DIN 4768
RC, calcul numérique [mm], longueurs d'onde limites 0,025; 0,08; 0,25; 0,8; 2,5; 8
ISO 11562/ISO 16610-21, (50% Gauss) Filtre numérique Gaussien (M1) [mm], longueurs d'onde de coupure 0,025; 0,08; 0,25; 0,8; 2,5; 8
ISO 13565-1
Double Gaussien (M2) paramètre Rk, longueurs d'onde de coupure 0,025; 0,08; 0,25; 0,8; 2,5; 8
ISO 3274
Filtre de bruit de fond λs; réglable par palier de λc / λs 30; 100; 300
Vitesse de mesure vt
lt – assignée 0,05; 0,15; 0,5 mm/s variable de 0,01 à 2,0 mm/s par palier de 0,01
Distance de palpage lt 0,48; 1,5; 4,8; 15; 48 mm ou variable de 0,1 – 120 mm, en fonction de l’unité d’avance
Distance de mesure ln 0,40; 1,25; 4,0; 12,5; 40 mm ou longueur d'onde limite variable cut-off
Cut-off λ [mm]
0,08; 0,25; 0,8; 2,5; 8,0
Paramètres de rugosité : ISO 4287
Ra; Rz; Rmax; Rt; Rq; Rsk; lmo; lo; Rdq; da; ln; La; Lq; Rdc; Rv; Rz-ISO; R3z; Rpm; Rp3z; R3zm; Rp; D;
RPc; RSm; Rpm/R3z; lr; Rku; tpif; tpia; tpip; tpic; Rt/Ra; Rz1; Rz2; Rz3; Rz4; Rz5; Rmr; Rmr%; Api
Paramètres de rugosité : ISO 13565
Rpk*; Rpk; Rk; Rvk*; Rvk; Mr1; Mr 2; A1; A2; Vo(70%)0.01* Rv/Rk
Paramètres de profil primaire : ISO 4287
Pt´; Pp; Pz; Pa; Pdc; Pq; Psk; PSm; Pdq; lp; Pku; tpaf; tpaa; tpab; tpac; Pmr0; APa; APa%; Pmr; Pmr%
Paramètres d'ondulation : ISO 4287
Wt´; Wp; Wz; Wa; Wq; Wsk; WSm; Wdq; lw; Wku
Paramètres des Motifs : ISO 12085
R; Rx; AR; Nr; W; Wx; AW; Nw; Wte; Tpaf(CR, CL, CF)
Paramètres de rugosité : JIS B – 0601
Rz-JIS; WCA; WCM
Statistiques
(n, x, S, R, max, min) par programme, de 1 à 999 mesures
Sortie sur écran et imprimante Caractéristiques de surface; statistiques; position de profil : profils P, R, W, K;
taux de longueur portante ; conditions de mesure ; tolérances
Connecteur de périphériques Unités d'avance linéaire : waveline™ 20; 120; colonnes de mesure : wavelift™ 400; 2 x USB
sur face avant, 2 x USB sur face arrière, LAN 10/100 (RJ45), RS232 (9-PIN-D-Sub)
Alimentation électrique
100 - 240 V, 50-60 Hz, 160 VA
Température de fonctionnement +10°C à + 45°C, humidité relative max. 85% sans condensation; ∆T 2°C/h
Température de stockage -20°C à + 50°C
HOMMEL-ETAMIC W55
Mesure et évaluation d‘états de surface en bord de ligne
Jenoptik Industrial Metrology Germany GmbH
Alte Tuttlinger Straße 20
D-78056 Villingen-Schwenningen
Tél. +49 7720 602-0
Mais aussi près de chez vous. Sociétés en :
Allemagne
France
Suisse
Espagne
Instruments de mesure de rugosité
HOMMEL-ETAMIC
W55 R20-300
HOMMEL-ETAMIC
W55 R120-400
Unité d’avancewaveline™ 20
waveline™ 120
Guidage
Référence externe
Référence externe
Etendue de mesure
20 mm
120 mm
Vitesse de palpage
0,05 – 3 mm/sec.
0,01 – 3 mm/sec.
Rectitude
< 0,2 µm / 20 mm
≤ 0,4 µm / 120 mm
Capteur
TKU 300
TKU 300
Etendue de mesure max.
± 300 µm
± 300 µm
Colonne de mesure ManuelleMotorisée
Course verticale
300 mm
400 mm
Unité d’avance
± 180º
± 45º
Angle d’inclinaison fin
–
± 5º
Vitesse de positionnement
–
0,1 – 12 mm/sec
Répétabilité de positionnement
–
< 12 µm
Marbre dimensions
400 x 280 mm
780 x 500 mm
Chine
Singapour
Corée du Sud
Inde
Participations et représentations partout dans
le monde :
www.jenoptik.com/metrology
Intéressé(e) ? Contactez-nous :
06/2013
[email protected]
9
Copyright © JENOPTIK Industrial Metrology Germany GmbH. Tous droits, modifications et erreurs réservés. Les photos d‘illustration peuvent montrer des options et ne sont pas contractuelles.
1003 7925
Rép. tchèque
États-Unis
Mexique
Brésil
W55
W55
Solutions pour une utilisation
polyvalente
W55
Options logicielles
Option logicielle W55 ondulation dominante
Une ondulation dominante
Réf. 1001 2251
Analyse d'écarts de forme périodiques (ondulation)
sur surfaces selon VDA 2007.
En raison de ses dimensions compactes, l’équipement
Distance de mesure ln
Paramètres calculés :
W55 se prête à des tâches diverses. En combinaison
Deux ondulations dominantes
WD1c ; WD1t ; WD1Sm ; WD2c ; WD2t ; WD2Sm
avec l‘unité d‘avance waveline™ 20, les mesures deviennent rapides et faciles à réaliser en production ou bord
de ligne. La touche de dém­arrage intégrée dans l‘unité
Option logicielle W55 interface qs-STAT®
d‘avance et sa forme ergonomique facilitent sa com-
Réf. 1001 2252
mande.
Format de transfert Q-DAS ASCII pour un enregistrement
Distance de mesure ln
Profil
-------P
Profil
-------- WD1
Profil
WD2
---------
local ou remonté réseau des résultats au format DFQ.
Votre partenaire dans le domaine
du contrôle industriel
Nous vous fournissons des solutions qui vous aident à
de vous soutenir de manière optimale en tant que
optimiser la qualité et la rentabilité de vos processus de
partenaire de confiance.
fabrication.
Mesures flexibles d’états de surface
Nous, la division Métrologie Industrielle au sein du
Notre gamme d’instruments de mesure propose des
groupe Jenoptik, faisons partie des principaux spéciali-
modèles pour tout type d’application : du rugosimètre
stes mondiaux des systèmes de mesure ultra-précis,
compact pour les applications mobiles aux postes
avec et sans contact, appliqués à la production.
stationnaires adaptés au besoin du client, en passant
par les systèmes combinant les mesures de rugosité,
Notre gamme comprend des solutions complètes pour
Option logicielle W55 convertisseur pdf
Option logicielle W55 CNC
Réf. 1003 0730
Réf. 1003 0790
Création et sauvegarde des rapports au format pdf
Logiciel CNC pour une automatisation des programmes
(portable document format).
de mesure. Pour instruments équipés avec waveline™ et
wavelift™.
Accessoires wavesystem™
pour différentes tâches de mesure
Exemple d’une solution customisée
Doté d’une broche de mesure pour fûts de carter
cylindres, le W55 peut déterminer rapidement et précisément les paramètres de rugosité dans les fûts.
Grâce à la conception ergonomique et mobile, les
La structure modulaire de nos systèmes de mesure
MT1 : Deux coordonnées ± 12,5 mm ajustable
mesures peuvent être réalisées en bord de ligne.
combinée à un large éventail d’accessoires, garantit
Surface d’appui: 160 x 160 mm
une adaptation des appareils aux tâches de mesure les
Axes XYO
plus variées. Un échantillon représentatif de nos acces-
Rotatif de surcroît ± 5° autour de l’axe vertical
soires standards est présenté ci-dessous.
Axes XYO
de topographie et de contour.
les opérations de mesure les plus variés, par exemple le
Réf. M0 435 273
Réf. M0 435 276
contrôle des surfaces et des formes, mais aussi la déter-
A l’atelier, en bord de ligne ou en salle de mesure, le
mination des dimensions dans toutes les phases du
W55 vous fournit, d’une simple pression sur l’écran,
processus de production, jusqu’au contrôle final ou la
simplement et rapidement des résultats simples et pré-
Tables de positionnement manuelles
MT2 : Deux coordonnées ± 12,5 mm ajustable
cis. Il dispose de possibilités d’archivage, d’impression
Pour un positionnement précis de petites pièces.
Rotatif: ± 5° autour de l’axe vertical
salle de métrologie.
Surface d’appui: 100 x 100 mm
et d’exportation de données qui le rendent parfaitement
Avec des décennies d’expérience dans le domaine de la
compatible avec les systèmes de gestion qualité les plus
mesure tactile, optique et pneumatique, et avec notre
complets. L’impression est possible, soit en local, soit
réseau international de distribution et de service après-
en réseau via une interface LAN.
Table de positionnement MT1
Axes XYO
Réf. M0 435 278
vente, nous sommes proches de vous, nos clients, afin
Table de positionnement MT2
2
7
8
W55
Pour les tâches les plus complexes
en bord de ligne
Les avantages du HOMMEL-ETAMIC W55 en un clin d’œil
Commandes
Conception
La structure arborescente permet d’assimiler rapide-
Le W55 convient aussi bien à une utilisation en atelier
ment les fonctions de base du W55.
qu’en métrologie grâce à l’ergonomie globale, à la
robustesse et à l’étanchéité de son boîtier aluminium.
Convivialité
L’écran couleur TFT 10“ permet une visualisation globale
Gestion des données
de toutes les informations importantes. Des informations
Les résultats de mesure sont sauvegardés dans l’appareil.
complémentaires peuvent également être affichées.
Ils peuvent être transférés sur une clé USB, archivés sur
un serveur via LAN ou imprimés en local ou en réseau.
Fonctionnalité
L'électronique performante garantit des résultats de
Compatibilité
mesure précis. Elle s'acquitte de tâches complexes tout
Les interfaces standard permettent d’adapter les config-
en offrant une grande convivialité. Les conditions de
urations système aux diverses exigences. Elles rendent le
mesure et tous les paramètres courants peuvent être
W55 compatible aussi bien avec les périphériques actuels
sélectionnés individuellement et regroupés à l'affichage.
qu’avec les développements futurs.
Courant
Ports USB
RS23 2C
Bus HW
Universel
Imprimante
Clé USB
Convivialité et simplicité du menu
wavesystem
Ethernet
Unité
d’avance
Serveur
Imprimante
Connecteurs pour interfaces standard
Exportation de données vers clé USB
HOMMEL-ETAMIC W55
•Création simplifiée de programmes de mesure via
•Unité d'évaluation compacte et performante, conçue
l'écran tactile
pour la production
•Fonction statistiques intégrée
•Calcul de tous les paramètres de rugosité, de profils •Archivage électronique des résultats de mesure
et d'ondulation courants
•Touches de fonction robustes
•Surveillance du tolérancement des paramètres mesurés
•Exportation de données au format ASCII
•Représentation de profils P, R, W et courbe d’Abbott
•Compatible wavesystem™ avec divers capteurs, unités •Gestion de jusqu'à 30 programmes de mesure
d’avance et colonnes
3
W55
Instrument de mesure de rugosité
HOMMEL-ETAMIC W55 R120-400
Réf. 1001 7077
Configuration pour poste de mesure universel fixe,
•Dispositif d’inclinaison pour waveline™ 120
avec colonne de mesure motorisée pour mesure de
–Plage de réglage approximatif ± 45º
rugosité, de profil et d'ondulation.
–Plage de réglage fin ± 5º
Composition
–Course : 120 mm
•Unité d'évaluation W55
–Ecart de rectitude : ≤ 0,4 µm/120 mm
•Marbre avec rainure en T
–Vitesse de mesure : 0,01 – 3 mm/s
•Unité d'avance waveline™ 120
Dimensions 780 x 500 mm
•Etalon de rugosité RNDH2
•Colonne verticale wavelift™ 400
•Kit capteur TKU 300
–Course 400 mm, motorisée
–Etendue de mesure ± 300 µm
–Fonction arrêt automatique
–Jeu de 3 stylets interchangeables
Capteur de rugosité
± 300 µm avec
3 stylets
Unité d'évaluation W55
Table de positionnement manuelle MT1
(en option)
Jeu de stylets
4
W55
Colonne verticale
wavelift™ 400
avec entraînement
motorisé
Sélection de programmes de mesure
Accès rapide par photo
Unité d’inclinaison
± 45° avec plage
de réglage fin ± 5°
Représentation des résultats
Paramètres et profil d'ondulation
Unité d'avance
waveline™ 120
avec éten­due de
mesure 120 mm
Représentation des résultats
Paramètres de rugosité et représentation de profil
Marbre avec rainure en T
780 x 500 mm
Liste de paramètres et statistiques
Exportation de données
5
W55
Instrument de mesure de rugosité
HOMMEL-ETAMIC W55 R20-300
Réf. 1001 7076
Configuration de poste de mesure compacte, fixe
•Unité d'avance waveline™ 20
pour pièces de petites et moyennes dimensions
–Etendue de mesure : 20 mm
faisant l'objet de mesures de rugosité, de profil et
–Ecart de rectitude : ≤ 0,2 µm/20 mm
d'ondulation.
–Positionnement motorisé du capteur avec relève automatique de ce dernier
Composition
– Plage d'orientation interne ± 2º
•Unité d'évaluation W55
–Touche de démarrage intégrée
•Marbre avec rainure en T
•Etalon de rugosité RNDH2
Dimensions 400 x 280 mm
•Kit de capteur TKU 300
• Statif
–Etendue de mesure ± 300 µm
–Plage de réglage en hauteur 300 mm
–Avec 3 stylets interchangeables
–Dispositif de pivotement ± 45º
Table de
positionnement
manuelle MT2
(en option)
6
W55
W55
Solutions pour une utilisation
polyvalente
W55
Options logicielles
Option logicielle W55 ondulation dominante
Une ondulation dominante
Réf. 1001 2251
Analyse d'écarts de forme périodiques (ondulation)
sur surfaces selon VDA 2007.
En raison de ses dimensions compactes, l’équipement
Distance de mesure ln
Paramètres calculés :
W55 se prête à des tâches diverses. En combinaison
Deux ondulations dominantes
WD1c ; WD1t ; WD1Sm ; WD2c ; WD2t ; WD2Sm
avec l‘unité d‘avance waveline™ 20, les mesures deviennent rapides et faciles à réaliser en production ou bord
de ligne. La touche de dém­arrage intégrée dans l‘unité
Option logicielle W55 interface qs-STAT®
d‘avance et sa forme ergonomique facilitent sa com-
Réf. 1001 2252
mande.
Format de transfert Q-DAS ASCII pour un enregistrement
Distance de mesure ln
Profil
-------P
Profil
-------- WD1
Profil
WD2
---------
local ou remonté réseau des résultats au format DFQ.
Votre partenaire dans le domaine
du contrôle industriel
Nous vous fournissons des solutions qui vous aident à
de vous soutenir de manière optimale en tant que
optimiser la qualité et la rentabilité de vos processus de
partenaire de confiance.
fabrication.
Mesures flexibles d’états de surface
Nous, la division Métrologie Industrielle au sein du
Notre gamme d’instruments de mesure propose des
groupe Jenoptik, faisons partie des principaux spéciali-
modèles pour tout type d’application : du rugosimètre
stes mondiaux des systèmes de mesure ultra-précis,
compact pour les applications mobiles aux postes
avec et sans contact, appliqués à la production.
stationnaires adaptés au besoin du client, en passant
par les systèmes combinant les mesures de rugosité,
Notre gamme comprend des solutions complètes pour
Option logicielle W55 convertisseur pdf
Option logicielle W55 CNC
Réf. 1003 0730
Réf. 1003 0790
Création et sauvegarde des rapports au format pdf
Logiciel CNC pour une automatisation des programmes
(portable document format).
de mesure. Pour instruments équipés avec waveline™ et
wavelift™.
Accessoires wavesystem™
pour différentes tâches de mesure
Exemple d’une solution customisée
Doté d’une broche de mesure pour fûts de carter
cylindres, le W55 peut déterminer rapidement et précisément les paramètres de rugosité dans les fûts.
Grâce à la conception ergonomique et mobile, les
La structure modulaire de nos systèmes de mesure
MT1 : Deux coordonnées ± 12,5 mm ajustable
mesures peuvent être réalisées en bord de ligne.
combinée à un large éventail d’accessoires, garantit
Surface d’appui: 160 x 160 mm
une adaptation des appareils aux tâches de mesure les
Axes XYO
plus variées. Un échantillon représentatif de nos acces-
Rotatif de surcroît ± 5° autour de l’axe vertical
soires standards est présenté ci-dessous.
Axes XYO
de topographie et de contour.
les opérations de mesure les plus variés, par exemple le
Réf. M0 435 273
Réf. M0 435 276
contrôle des surfaces et des formes, mais aussi la déter-
A l’atelier, en bord de ligne ou en salle de mesure, le
mination des dimensions dans toutes les phases du
W55 vous fournit, d’une simple pression sur l’écran,
processus de production, jusqu’au contrôle final ou la
simplement et rapidement des résultats simples et pré-
Tables de positionnement manuelles
MT2 : Deux coordonnées ± 12,5 mm ajustable
cis. Il dispose de possibilités d’archivage, d’impression
Pour un positionnement précis de petites pièces.
Rotatif: ± 5° autour de l’axe vertical
salle de métrologie.
Surface d’appui: 100 x 100 mm
et d’exportation de données qui le rendent parfaitement
Avec des décennies d’expérience dans le domaine de la
compatible avec les systèmes de gestion qualité les plus
mesure tactile, optique et pneumatique, et avec notre
complets. L’impression est possible, soit en local, soit
réseau international de distribution et de service après-
en réseau via une interface LAN.
Table de positionnement MT1
Axes XYO
Réf. M0 435 278
vente, nous sommes proches de vous, nos clients, afin
Table de positionnement MT2
2
7
8
W55
W55
Solutions pour une utilisation
polyvalente
W55
Options logicielles
Option logicielle W55 ondulation dominante
Une ondulation dominante
Réf. 1001 2251
Analyse d'écarts de forme périodiques (ondulation)
sur surfaces selon VDA 2007.
En raison de ses dimensions compactes, l’équipement
Distance de mesure ln
Paramètres calculés :
W55 se prête à des tâches diverses. En combinaison
Deux ondulations dominantes
WD1c ; WD1t ; WD1Sm ; WD2c ; WD2t ; WD2Sm
avec l‘unité d‘avance waveline™ 20, les mesures deviennent rapides et faciles à réaliser en production ou bord
de ligne. La touche de dém­arrage intégrée dans l‘unité
Option logicielle W55 interface qs-STAT®
d‘avance et sa forme ergonomique facilitent sa com-
Réf. 1001 2252
mande.
Format de transfert Q-DAS ASCII pour un enregistrement
Distance de mesure ln
Profil
-------P
Profil
-------- WD1
Profil
WD2
---------
local ou remonté réseau des résultats au format DFQ.
Votre partenaire dans le domaine
du contrôle industriel
Nous vous fournissons des solutions qui vous aident à
de vous soutenir de manière optimale en tant que
optimiser la qualité et la rentabilité de vos processus de
partenaire de confiance.
fabrication.
Mesures flexibles d’états de surface
Nous, la division Métrologie Industrielle au sein du
Notre gamme d’instruments de mesure propose des
groupe Jenoptik, faisons partie des principaux spéciali-
modèles pour tout type d’application : du rugosimètre
stes mondiaux des systèmes de mesure ultra-précis,
compact pour les applications mobiles aux postes
avec et sans contact, appliqués à la production.
stationnaires adaptés au besoin du client, en passant
par les systèmes combinant les mesures de rugosité,
Notre gamme comprend des solutions complètes pour
Option logicielle W55 convertisseur pdf
Option logicielle W55 CNC
Réf. 1003 0730
Réf. 1003 0790
Création et sauvegarde des rapports au format pdf
Logiciel CNC pour une automatisation des programmes
(portable document format).
de mesure. Pour instruments équipés avec waveline™ et
wavelift™.
Accessoires wavesystem™
pour différentes tâches de mesure
Exemple d’une solution customisée
Doté d’une broche de mesure pour fûts de carter
cylindres, le W55 peut déterminer rapidement et précisément les paramètres de rugosité dans les fûts.
Grâce à la conception ergonomique et mobile, les
La structure modulaire de nos systèmes de mesure
MT1 : Deux coordonnées ± 12,5 mm ajustable
mesures peuvent être réalisées en bord de ligne.
combinée à un large éventail d’accessoires, garantit
Surface d’appui: 160 x 160 mm
une adaptation des appareils aux tâches de mesure les
Axes XYO
plus variées. Un échantillon représentatif de nos acces-
Rotatif de surcroît ± 5° autour de l’axe vertical
soires standards est présenté ci-dessous.
Axes XYO
de topographie et de contour.
les opérations de mesure les plus variés, par exemple le
Réf. M0 435 273
Réf. M0 435 276
contrôle des surfaces et des formes, mais aussi la déter-
A l’atelier, en bord de ligne ou en salle de mesure, le
mination des dimensions dans toutes les phases du
W55 vous fournit, d’une simple pression sur l’écran,
processus de production, jusqu’au contrôle final ou la
simplement et rapidement des résultats simples et pré-
Tables de positionnement manuelles
MT2 : Deux coordonnées ± 12,5 mm ajustable
cis. Il dispose de possibilités d’archivage, d’impression
Pour un positionnement précis de petites pièces.
Rotatif: ± 5° autour de l’axe vertical
salle de métrologie.
Surface d’appui: 100 x 100 mm
et d’exportation de données qui le rendent parfaitement
Avec des décennies d’expérience dans le domaine de la
compatible avec les systèmes de gestion qualité les plus
mesure tactile, optique et pneumatique, et avec notre
complets. L’impression est possible, soit en local, soit
réseau international de distribution et de service après-
en réseau via une interface LAN.
Table de positionnement MT1
Axes XYO
Réf. M0 435 278
vente, nous sommes proches de vous, nos clients, afin
Table de positionnement MT2
2
7
8
SYSTEMES OPTIQUES LASER & TRAITEMENT DES MATERIAUX METROLOGIE INDUSTRIELLE SECURITE ROUTIERE DEFENSE & SYSTEMES CIVILS
W55
Caractéristiques techniques HOMMEL-ETAMIC W55
Principe de mesure
Profilomètre tactile d'états de surface
Classe de précision selon DIN 4772
1
Plage de mesure/résolution
± 8 µm/1 nm; ± 80 µm/10 nm; ± 400 µm/50 nm; ± 800 µm/100 nm
Filtre : longueur d’onde limite
0,025; 0,08; 0,25; 0,8; 2,5; 8 (mm); réglable par cut-off de –2 à +1;
variable de 0,001 à 80 par pas de 0,001
DIN 4768
RC, calcul numérique [mm], longueurs d'onde limites 0,025; 0,08; 0,25; 0,8; 2,5; 8
ISO 11562/ISO 16610-21, (50% Gauss) Filtre numérique Gaussien (M1) [mm], longueurs d'onde de coupure 0,025; 0,08; 0,25; 0,8; 2,5; 8
ISO 13565-1
Double Gaussien (M2) paramètre Rk, longueurs d'onde de coupure 0,025; 0,08; 0,25; 0,8; 2,5; 8
ISO 3274
Filtre de bruit de fond λs; réglable par palier de λc / λs 30; 100; 300
Vitesse de mesure vt
lt – assignée 0,05; 0,15; 0,5 mm/s variable de 0,01 à 2,0 mm/s par palier de 0,01
Distance de palpage lt 0,48; 1,5; 4,8; 15; 48 mm ou variable de 0,1 – 120 mm, en fonction de l’unité d’avance
Distance de mesure ln 0,40; 1,25; 4,0; 12,5; 40 mm ou longueur d'onde limite variable cut-off
Cut-off λ [mm]
0,08; 0,25; 0,8; 2,5; 8,0
Paramètres de rugosité : ISO 4287
Ra; Rz; Rmax; Rt; Rq; Rsk; lmo; lo; Rdq; da; ln; La; Lq; Rdc; Rv; Rz-ISO; R3z; Rpm; Rp3z; R3zm; Rp; D;
RPc; RSm; Rpm/R3z; lr; Rku; tpif; tpia; tpip; tpic; Rt/Ra; Rz1; Rz2; Rz3; Rz4; Rz5; Rmr; Rmr%; Api
Paramètres de rugosité : ISO 13565
Rpk*; Rpk; Rk; Rvk*; Rvk; Mr1; Mr 2; A1; A2; Vo(70%)0.01* Rv/Rk
Paramètres de profil primaire : ISO 4287
Pt´; Pp; Pz; Pa; Pdc; Pq; Psk; PSm; Pdq; lp; Pku; tpaf; tpaa; tpab; tpac; Pmr0; APa; APa%; Pmr; Pmr%
Paramètres d'ondulation : ISO 4287
Wt´; Wp; Wz; Wa; Wq; Wsk; WSm; Wdq; lw; Wku
Paramètres des Motifs : ISO 12085
R; Rx; AR; Nr; W; Wx; AW; Nw; Wte; Tpaf(CR, CL, CF)
Paramètres de rugosité : JIS B – 0601
Rz-JIS; WCA; WCM
Statistiques
(n, x, S, R, max, min) par programme, de 1 à 999 mesures
Sortie sur écran et imprimante Caractéristiques de surface; statistiques; position de profil : profils P, R, W, K;
taux de longueur portante ; conditions de mesure ; tolérances
Connecteur de périphériques Unités d'avance linéaire : waveline™ 20; 120; colonnes de mesure : wavelift™ 400; 2 x USB
sur face avant, 2 x USB sur face arrière, LAN 10/100 (RJ45), RS232 (9-PIN-D-Sub)
Alimentation électrique
100 - 240 V, 50-60 Hz, 160 VA
Température de fonctionnement +10°C à + 45°C, humidité relative max. 85% sans condensation; ∆T 2°C/h
Température de stockage -20°C à + 50°C
HOMMEL-ETAMIC W55
Mesure et évaluation d‘états de surface en bord de ligne
Jenoptik Industrial Metrology Germany GmbH
Alte Tuttlinger Straße 20
D-78056 Villingen-Schwenningen
Tél. +49 7720 602-0
Mais aussi près de chez vous. Sociétés en :
Allemagne
France
Suisse
Espagne
Instruments de mesure de rugosité
HOMMEL-ETAMIC
W55 R20-300
HOMMEL-ETAMIC
W55 R120-400
Unité d’avancewaveline™ 20
waveline™ 120
Guidage
Référence externe
Référence externe
Etendue de mesure
20 mm
120 mm
Vitesse de palpage
0,05 – 3 mm/sec.
0,01 – 3 mm/sec.
Rectitude
< 0,2 µm / 20 mm
≤ 0,4 µm / 120 mm
Capteur
TKU 300
TKU 300
Etendue de mesure max.
± 300 µm
± 300 µm
Colonne de mesure ManuelleMotorisée
Course verticale
300 mm
400 mm
Unité d’avance
± 180º
± 45º
Angle d’inclinaison fin
–
± 5º
Vitesse de positionnement
–
0,1 – 12 mm/sec
Répétabilité de positionnement
–
< 12 µm
Marbre dimensions
400 x 280 mm
780 x 500 mm
Chine
Singapour
Corée du Sud
Inde
Participations et représentations partout dans
le monde :
www.jenoptik.com/metrology
Intéressé(e) ? Contactez-nous :
06/2013
[email protected]
9
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1003 7925
Rép. tchèque
États-Unis
Mexique
Brésil
SYSTEMES OPTIQUES LASER & TRAITEMENT DES MATERIAUX METROLOGIE INDUSTRIELLE SECURITE ROUTIERE DEFENSE & SYSTEMES CIVILS
W55
Caractéristiques techniques HOMMEL-ETAMIC W55
Principe de mesure
Profilomètre tactile d'états de surface
Classe de précision selon DIN 4772
1
Plage de mesure/résolution
± 8 µm/1 nm; ± 80 µm/10 nm; ± 400 µm/50 nm; ± 800 µm/100 nm
Filtre : longueur d’onde limite
0,025; 0,08; 0,25; 0,8; 2,5; 8 (mm); réglable par cut-off de –2 à +1;
variable de 0,001 à 80 par pas de 0,001
DIN 4768
RC, calcul numérique [mm], longueurs d'onde limites 0,025; 0,08; 0,25; 0,8; 2,5; 8
ISO 11562/ISO 16610-21, (50% Gauss) Filtre numérique Gaussien (M1) [mm], longueurs d'onde de coupure 0,025; 0,08; 0,25; 0,8; 2,5; 8
ISO 13565-1
Double Gaussien (M2) paramètre Rk, longueurs d'onde de coupure 0,025; 0,08; 0,25; 0,8; 2,5; 8
ISO 3274
Filtre de bruit de fond λs; réglable par palier de λc / λs 30; 100; 300
Vitesse de mesure vt
lt – assignée 0,05; 0,15; 0,5 mm/s variable de 0,01 à 2,0 mm/s par palier de 0,01
Distance de palpage lt 0,48; 1,5; 4,8; 15; 48 mm ou variable de 0,1 – 120 mm, en fonction de l’unité d’avance
Distance de mesure ln 0,40; 1,25; 4,0; 12,5; 40 mm ou longueur d'onde limite variable cut-off
Cut-off λ [mm]
0,08; 0,25; 0,8; 2,5; 8,0
Paramètres de rugosité : ISO 4287
Ra; Rz; Rmax; Rt; Rq; Rsk; lmo; lo; Rdq; da; ln; La; Lq; Rdc; Rv; Rz-ISO; R3z; Rpm; Rp3z; R3zm; Rp; D;
RPc; RSm; Rpm/R3z; lr; Rku; tpif; tpia; tpip; tpic; Rt/Ra; Rz1; Rz2; Rz3; Rz4; Rz5; Rmr; Rmr%; Api
Paramètres de rugosité : ISO 13565
Rpk*; Rpk; Rk; Rvk*; Rvk; Mr1; Mr 2; A1; A2; Vo(70%)0.01* Rv/Rk
Paramètres de profil primaire : ISO 4287
Pt´; Pp; Pz; Pa; Pdc; Pq; Psk; PSm; Pdq; lp; Pku; tpaf; tpaa; tpab; tpac; Pmr0; APa; APa%; Pmr; Pmr%
Paramètres d'ondulation : ISO 4287
Wt´; Wp; Wz; Wa; Wq; Wsk; WSm; Wdq; lw; Wku
Paramètres des Motifs : ISO 12085
R; Rx; AR; Nr; W; Wx; AW; Nw; Wte; Tpaf(CR, CL, CF)
Paramètres de rugosité : JIS B – 0601
Rz-JIS; WCA; WCM
Statistiques
(n, x, S, R, max, min) par programme, de 1 à 999 mesures
Sortie sur écran et imprimante Caractéristiques de surface; statistiques; position de profil : profils P, R, W, K;
taux de longueur portante ; conditions de mesure ; tolérances
Connecteur de périphériques Unités d'avance linéaire : waveline™ 20; 120; colonnes de mesure : wavelift™ 400; 2 x USB
sur face avant, 2 x USB sur face arrière, LAN 10/100 (RJ45), RS232 (9-PIN-D-Sub)
Alimentation électrique
100 - 240 V, 50-60 Hz, 160 VA
Température de fonctionnement +10°C à + 45°C, humidité relative max. 85% sans condensation; ∆T 2°C/h
Température de stockage -20°C à + 50°C
HOMMEL-ETAMIC W55
Mesure et évaluation d‘états de surface en bord de ligne
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HOMMEL-ETAMIC
W55 R20-300
HOMMEL-ETAMIC
W55 R120-400
Unité d’avancewaveline™ 20
waveline™ 120
Guidage
Référence externe
Référence externe
Etendue de mesure
20 mm
120 mm
Vitesse de palpage
0,05 – 3 mm/sec.
0,01 – 3 mm/sec.
Rectitude
< 0,2 µm / 20 mm
≤ 0,4 µm / 120 mm
Capteur
TKU 300
TKU 300
Etendue de mesure max.
± 300 µm
± 300 µm
Colonne de mesure ManuelleMotorisée
Course verticale
300 mm
400 mm
Unité d’avance
± 180º
± 45º
Angle d’inclinaison fin
–
± 5º
Vitesse de positionnement
–
0,1 – 12 mm/sec
Répétabilité de positionnement
–
< 12 µm
Marbre dimensions
400 x 280 mm
780 x 500 mm
Chine
Singapour
Corée du Sud
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