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Rapport de stage CARACTERISATION DES PERFORMANCES DE CELLULES SOLAIRES ET ETUDE DES SHUNTS PAR INFRAROUGE Elsa Cuartero DUT Mesures Physiques spécialité Technique Instrumental Promotion 2011/2013 Tuteur de stage : Guy Lazzarelli Remerciements Je tiens tout d’abord à remercier Mr Yvon Pellegrin, directeur générale du groupe Semco-Engineering, pour m’avoir permis de faire mon stage à Irysolar. De même, je remercie Mr Guy Lazzarelli, responsable d’Irysolar, pour m’avoir accueilli et suivit dans mon stage. Je remercie chaleureusement Mr Erwann Picard et Mr Bachir Semmache, pour les conseils et les connaissances qu’ils m’ont apportés toujours dans la bonne humeur. Je souhaite aussi remercier Mr Laurent Crampette et Mlle Lucile Valette pour leur aide précieuse. En outre, je remercie toute l’équipe du groupe Semco-Engineering, et notamment l’équipe d’Irysolar pour leur accueil et les connaissances qu’ils m’ont apportées. Merci à tous ! Résumé J’ai effectué mon stage au sein d’Irysolar à Montpellier. Irysolar est une entreprise spécialisée dans le domaine du photovoltaïque. Elle est composée d’une ligne de production et d’un pôle de recherche et développement. Mes travaux se sont portés sur la caractérisation des performances des cellules solaires multicristallines au silicium et l’étude des shunts par infrarouge. Tout d’abord, je présente le processus de fabrication des cellules chez Irysolar. Puis l’essentiel des connaissances nécessaires à la compréhension de l’effet photovoltaïque et également les paramètres électriques utiles pour l’analyse des performances des cellules. Pour finir j’expose l’étude expérimentale qui se décompose en deux temps. Dans un premier temps, la caractérisation des cellules grâce à différents appareils de mesures et la comparaison de ces appareils. Dans un deuxième temps l’étude des shunts et la mise en place d’un banc de mesure de détection des courants de fuite par infrarouge. Sommaire Introduction ......................................................................................................... 1 Cadre général ....................................................................................................... 2 I. Présentation de l´entreprise.......................................................................................... 2 a. Missions ....................................................................................................................... 3 b. Répartition du chiffre d’affaires de Semco Engineering par activité .......................... 3 c. Moyens ........................................................................................................................ 3 II. Processus de fabrication des cellules Irysolar............................................................. 4 Les cellules photovoltaïques en silicium cristallin ............................................ 7 I. Effet photovoltaïque ...................................................................................................... 7 a. Rayonnement solaire ................................................................................................... 7 b. Principe de fonctionnement ......................................................................................... 8 II. Caractéristique I-V et performances d’une cellule .................................................. 10 a. Diode idéale ............................................................................................................... 10 b. Diode non idéale ........................................................................................................ 10 c. Paramètres électriques principaux ............................................................................. 11 Etude expérimentale.......................................................................................... 14 I. Caractérisation des cellules ........................................................................................ 14 a. Protocole .................................................................................................................... 14 b. Appareils .................................................................................................................... 15 c. Résultats..................................................................................................................... 16 II. Analyse des shunts ....................................................................................................... 20 a. Appareils de caractérisation des problèmes de shunt ................................................ 20 b. Manipulation .............................................................................................................. 22 c. Amélioration du banc de mesure par infrarouge ....................................................... 24 Conclusion générale et perspectives ................................................................ 28 Bibliographie ...................................................................................................... 29 Annexes ............................................................................................................... 31 Introduction Le développement des énergies renouvelables représente un des défis majeurs de nos sociétés pour les générations futures. En effet, la consommation mondiale d’électricité n’a cessé d’augmenter ces dernières décennies. La production mondiale d’énergie actuelle est constituée à 80% d’énergies fossiles (pétrole, charbon, gaz) et fissiles (nucléaire). Dans le cas des énergies d’origine fossile se pose tout d’abord le problème de l’approvisionnement prévu dans les quelques dizaines d’années à venir en cas de maintien, voire d’intensification, du rythme de la consommation. S’ajoute à cela la question du rejet massif de CO2 lié à la combustion de ces matières premières, qui devient de plus en plus inquiétante puisque ce gaz à effet de serre contribue au réchauffement climatique. L’énergie nucléaire, dont l’approvisionnement à long terme n’est pas non plus assuré, reste très critiquable en raison notamment de la difficulté de stockage des déchets ultimes. La nécessité et l’urgence de combiner la réduction de la consommation et le développement des énergies renouvelables et non polluantes, c'est-à-dire peu émettrices de CO2, s’impose donc comme un enjeu crucial. Les solutions de conversion d’énergie ne manquent pas : photovoltaïque, hydroélectricité, éolien, biomasse, géothermie… L’énergie photovoltaïque, à savoir la conversion directe de l’éclairement solaire en électricité, possède un potentiel énorme. En effet, l’énergie du rayonnement solaire sur terre est colossale (de l’ordre de 1000 W.m-2). De plus, les systèmes photovoltaïques sont très avantageux de par leur fiabilité, leur facilité d’entretien, et leur caractère écologique, avec une faible émission de CO2 émis comprise entre 25 et 35g/Wh (contre 980g/Wh pour le charbon ou 430 g/Wh dans le cas du gaz). Le matériau le plus utilisé et industrialisé depuis 50 ans pour la fabrication de cellules photovoltaïques est le silicium cristallin (80% de la production mondiale). Ce dernier présente en effet de nombreux avantages : abondance sur terre, bas prix, non toxicité, dopage facile… De plus, il bénéficie d’une implantation importante dans l’industrie de la microélectronique. Ce stage est basé sur la caractérisation de cellules solaires multicristallines au silicium, et plus particulièrement sur l’étude des shunts. Les shunts peuvent affecter significativement les performances de conversion des cellules. Ce rapport s’articule autour de trois chapitres : Le premier chapitre présente l’entreprise d’accueil, la chaine de production pilote ainsi que le processus de fabrication des cellules photovoltaïques fabriquées en son sein. Le second chapitre introduit l’essentiel des connaissances nécessaires à la compréhension de l’effet photovoltaïque et également les paramètres électriques utiles pour la suite. Le dernier chapitre est consacré à la partie expérimentale, c'est-à-dire à la caractérisation des cellules grâce à différents appareils de mesure ainsi qu’à l’analyse des shunts. 1 Cuartero Elsa / DUT Mesures Physiques / 2013 / IUT de Montpellier Cadre général I. Présentation de l´entreprise Situé au 395 rue Louis Lépine à Montpellier, Irysolar est une société du groupe Semco engineering. Semco Engineering est une PME active dans le Silicon High Tech par ses activités d’équipementier fournisseur de machines thermiques spécialisées pour la production de masse de wafers dans les industries du semi-conducteur et du photovoltaïque. L’équipe Semco Engineering, au cœur de ce marché depuis 1980, a acquis UPSYS repreneur de ASM fours horizontaux en 2001, QUALIFLOW (composants de transfert de gaz purs) et JIPELEC (RTP) en 2005, puis a créée IRYSOLAR en 2006 dédiée au Service fabrication de cellules Silicium et aux essais pilote d’équipements innovants pour les besoins des clients Semco. IRYSolar est actuellement équipé d’une ligne de production d’une capacité de 10 MW/an. Figure 1. Synoptique de l’entreprise Mon stage a lieu dans l´unité de recherche et développement d’Irysolar qui, en parallèle de la production quotidienne, développe une technologie de cellules solaires sur substrat silicium de type N ayant un rendement supérieur à 21% ainsi que l'outil de production nécessaire à leur fabrication (projet Monoxen). 2 Cuartero Elsa / DUT Mesures Physiques / 2013 / IUT de Montpellier a. Missions La fonderie PV Irysolar produit sur-mesure des cellules solaires en silicium cristallin selon les spécifications client. Cette activité est exercée avec le support scientifique et technique d’ingénieurs et de techniciens. Depuis sa création en 2006 Irysolar a développé de nombreuses relations de partenariat et de R&D collaborative avec des équipes de recherche et des fabricants de cellules solaires français (Institut des nanotechnologies de Lyon, PROMES à Perpignan, l’IES de Montpellier, INES du Bourget-du-Lac…). De plus, Irysolar participe directement ou indirectement à des projets nationaux de R&D (PV alliance, DERBI Presinol, PV20, OSEO MonoXen). b. Répartition du chiffre d’affaires de Semco Engineering par activité Figure 2. Chiffre d’affaires de Semco Engineering c. Moyens La ligne de production pilote est équipée de tout le matériel de traitement et de caractérisation nécessaire à la fabrication des cellules solaires à partir de wafers de silicium. Celle-ci est installée dans une salle blanche de 1000 m² où 33 employés (26 opérateurs et 7 ingénieurs dédiés à la R&D) travaillent. 3 Cuartero Elsa / DUT Mesures Physiques / 2013 / IUT de Montpellier II. Processus de fabrication des cellules Irysolar Les cellules utilisées dans le cadre de la production sont en silicium multicristallin de type p. On différencie le silicium monocristallin (c-Si), composé d’un seul cristal, du silicium multicristallin (mc-Si), formé de nombreux cristaux (de quelques millimètres à plusieurs centimètres) séparés par des joints de grains (de l’ordre de 10-100nm). Ces derniers regroupent des impuretés agrégées lors de la fabrication et qui, en trop grande quantité, peuvent limiter les performances des cellules de manière considérable. L’intérêt de ce matériau cristallin de moindre qualité est son très bon rapport performance/couts (Wp/€). Ces substrats de silicium (appelés plus communément « wafers ») sont transformés en cellules fonctionnelles grâce à différents traitements résumés par la figure 3 et décrits plus en détail dans le tableau de la figure 5. Figure 3. Ligne de production Irysolar des cellules multicristallines Afin de diminuer au maximum les effets de réflectivité de la surface de la cellule nous devons traiter celle-ci. Pour cela deux processus sont mis en place (figure 4) : - La texturisation qui permet la création de pyramides à la surface afin de « piéger » la lumière, La couche anti-reflet qui permet une interférence sélective en fonction de la longueur d’onde. 4 Cuartero Elsa / DUT Mesures Physiques / 2013 / IUT de Montpellier Figure 4. Structure d’une cellule en silicium de type p Les électrodes nécessaires à la collecte du courant sont déposées par sérigraphie (indiqués par la vue en coupe, figure 4). L’une recouvre la totalité de la face arrière pour assurer le contact avec la zone p. L’autre en forme de grille sur la face avant crée le contact avec la zone n. Ce procédé s’appelle la métallisation. Le processus de fabrication complet est décrit dans le tableau ci-dessous : Etape Texturisation Technique d’élaboration Gravure chimique dans un bain acide HF:HNO3 Netoyage Bain de HF:HCL Emetteur Diffusion de phosphore (POCl 3) sur les 3 premiers micromètres du wafer Bain de HF Enlèvement du PSG Ouverture de la jonction Dépôt de la couche anti-reflet (Arc) Gravure plasma avec un mélange gazeux de C2F6 et O2 soumis à un champ de radiofréquence Déposition de SiN a partir d’un plasma d’ammoniac (NH3) et de silane (SiH4) Métallisation Déposition de la grille en face avant (pate d’argent) et du contact arrière (pate d’aluminium) « Firing » Trois étapes de séchage successif (450°C, 625°C et 810°C) Mesure de rendement Flash testeur qui illumine la cellule et mesure le rendement Figure 5. Rôle Forme un relief en forme de pyramide sur la surface afin de la rendre moins réfléchissante Enlève les impuretés se trouvant dans le bain de texturisation Dopage du silicium (création d’un émetteur n+) Enlève le verre de phosphore de la surface Elimination des courts-circuits entre l’émetteur n+ et la base p Diminution de la réflectivité et amélioration de la passivation en surface et en volume Assurer une bonne conduction du courant Permet de faire pénétrer la pate Ag dans le SiN et la pate Al dans le silicium Contrôle de la puissance fournit par les cellules et les classes selon le rendement Tableau des différentes étapes de fabrications La dernière étape consiste à testée et classée chaque cellule selon des catégories de puissance pour avoir des assemblages homogènes (flash testeur : Pasan). C’est la moins bonne cellule qui déterminera le rendement d’un module. 5 Cuartero Elsa / DUT Mesures Physiques / 2013 / IUT de Montpellier Conclusion : Irysolar est une entreprise créée par la société SEMCO Engineering associant plusieurs activités dans le photovoltaïque. Tout d’abord elle permet de tester les équipements innovants de la société SEMCO pour les besoins de leurs clients. Elle est également équipée d’une ligne de production permettant la fabrication des cellules solaires. De plus, elle développe des projets d’amélioration de la fabrication et du rendement des modules photovoltaïques grâce à un pôle de recherche et développement et plusieurs partenariats avec des laboratoires de recherche. Nous avons pu voir que le processus de fabrication est complexe et demande différents traitements avant d’obtenir une cellule fonctionnelle. Il faut se pencher sur le fonctionnement des cellules en silicium cristallin pour mieux comprendre l’utilité de ces différentes étapes. Dans le chapitre suivant nous aborderons donc la théorie générale sur les cellules photovoltaïques. 6 Cuartero Elsa / DUT Mesures Physiques / 2013 / IUT de Montpellier Les cellules photovoltaïques en silicium cristallin I. Effet photovoltaïque Découvert en 1839 par le physicien français Antoine Becquerel, qui se demandait pourquoi certains matériaux faisaient des étincelles lorsqu'ils étaient exposés à la lumière. L'effet photovoltaïque correspond à l'apparition d'une différence de potentiel entre les deux côtés d'une jonction semi-conductrice sous l'action d'une radiation lumineuse. Il resta longtemps considéré comme une curiosité scientifique. L'énergie photovoltaïque eut un regain d'intérêt dans les années 1950 lors des premiers lancements spatiaux de satellites puis lors des missions lunaires. Les crises économiques des années 1970 (flambée des prix du pétrole en 1973) puis les accidents de centrales nucléaires tels ceux de Three Mile Island (USA, 1979) ou de Tchernobyl (URSS, 1986) et plus récemment Fukushima (Japon, 2011) renforce l'intérêt du grand public envers les énergies renouvelables, en particulier l'énergie photovoltaïque qui s'impose comme une des sources d'énergies renouvelables les plus prometteuses. a. Rayonnement solaire Le rayonnement solaire est constitué de photons dont la longueur d’onde s’étend de l’ultraviolet (0.2 μm) à l’infrarouge lointain (2.5 μm). On utilise la notion AM pour Air Mass afin de caractériser le spectre solaire en terme d’énergie émise. L’énergie totale transportée par le rayonnement solaire sur une distance soleil-Terre est de l’ordre de 1350W/m² (AM0) dans l’espace hors atmosphère terrestre (Figure 6). Lorsque le rayonnement solaire traverse l’atmosphère, il subit une atténuation et une modification de son spectre, à la suite de phénomènes d’absorption et de diffusion dans les gaz, l’eau et les poussières. Ainsi, la couche d’ozone absorbe une partie du spectre lumineux provenant du soleil, et en particulier une partie des ultraviolets. Le rayonnement solaire direct reçu au niveau du sol (à 90° d’inclinaison) atteint 1000 W/m² du fait de l’absorption dans l’atmosphère (AM1). Cette valeur change en fonction de l’inclinaison des rayons lumineux par rapport au sol. Plus l’angle de pénétration θ est faible, plus l’épaisseur atmosphérique que les rayons auront à traverser sera grande, d’où une perte d’énergie conséquente. Par exemple, l’énergie directe transportée par le rayonnement solaire atteignant le sol avec un angle de 48° avoisine les 833 W/m² (AM1.5). Pour connaître le rayonnement global reçu au sol, il faut ajouter à ce dernier le rayonnement diffus. Le rayonnement diffus concerne tout le rayonnement dont la trajectoire entre le soleil et le point d'observation n'est pas géométriquement rectiligne et qui est dispersé ou réfléchi par l'atmosphère ou bien le sol. Ainsi, on obtient une référence du spectre global notée AM1.5 avec une puissance de 1000W/m. 7 Cuartero Elsa / DUT Mesures Physiques / 2013 / IUT de Montpellier Figure 6. Représentation des spectres solaires AM0, AM1.5D et AM1.5G en fonction de la longueur d’onde b. Principe de fonctionnement L’effet photovoltaïque est basé sur la transformation directe d’une énergie électromagnétique (rayonnement) en énergie électrique de type continu. Cette transformation est basée sur les trois mécanismes suivants : l’absorption des photons par le matériau constituant la cellule la conversion en énergie électrique, c'est-à-dire la création de paires électron/trou dans le matériau la collecte des porteurs générés dans un circuit électrique extérieur La dissociation des paires électron/trou photo-générées nécessite la présence d’un champ électrique permanent. On crée alors une dissymétrie électrique permettant de collecter l’électron libéré par absorption d’un photon. Elle est obtenue par la création d’une jonction entre deux semi-conducteurs dopés différemment. Dans le cas d’une cellule solaire à base de silicium de type p, la structure utilisée est une jonction p-n. Cette dernière est constituée d’un substrat de base en silicium de type n, appelé émetteur. Ces deux types de silicium sont en pratique réalisés comme indiqué ci-dessous : Le type n : Silicium tétravalent dopé par du phosphore pentavalent. Création d’électrons libres. Le type p : Silicium tétravalent dopé avec du Bore trivalent. Création de lacunes. Figure 7. Dopage de type n (à gauche) et dopage de type p (à droite) 8 Cuartero Elsa / DUT Mesures Physiques / 2013 / IUT de Montpellier Lors de l’établissement d’une jonction p-n à l’obscurité (figure 8), les porteurs majoritaires, électrons côté n et trous côté p, diffusent respectivement vers les zones p et n. Il en résulte l'apparition d'une zone exempt de charges mobiles, la Zone de Charge d’Espace (ZCE), où seuls demeurent les atomes d'impuretés fixes, ions accepteurs côté p, ions donneurs côté n, ainsi que les atomes de silicium neutres. Les charges constituées par les ions fixes sont à l'origine d'un champ électrique E dans la zone de transition. Sous éclairement, les photons incidents créent des paires électron/trou dans les zones n, p et dans la ZCE. Dans les zones n et p d’une part, les porteurs minoritaires atteignant la ZCE sont happés par le champ électrique, vers la zone p pour les trous et vers la zone n pour les électrons, produisant l’apparition d’un photo-courant de diffusion. Les paires électron/trou générées au niveau de la ZCE sont dissociées par le champ, entraînant également l’envoi des électrons vers la zone n et les trous vers la zone p. Figure 8. Schéma de la structure et diagramme de bande d’une cellule photovoltaïque en silicium de type p Les photons incidents créent des porteurs dans les zones n et p et dans la zone de charge d'espace. Les photoporteurs auront un comportement différent suivant la région : • • dans la zone n ou p, les porteurs minoritaires qui atteignent la zone de charge d'espace sont "envoyés" par le champ électrique dans la zone p (pour les trous) ou dans la zone n (pour les électrons) où ils seront majoritaires. On aura un photocourant de diffusion ; dans la zone de charge d'espace, les paires électron/trou créées par les photons incidents sont dissociées par le champ électrique : les électrons vont aller vers la région n, les trous vers la région p. On aura un photocourant de génération. Ces deux contributions s'ajoutent pour donner un photocourant résultant Iph. C'est un courant de porteurs minoritaires. Il est proportionnel à l'intensité lumineuse. 9 Cuartero Elsa / DUT Mesures Physiques / 2013 / IUT de Montpellier II. Caractéristique I-V et performances d’une cellule Lorsqu’une jonction PN, réalisée à partir de matériaux sensibles à la lumière est éclairée, elle présente la particularité de pouvoir fonctionner en générateur d’énergie. Ce comportement peut être décrit par la caractéristique d’une diode classique. Ainsi la caractéristique courant–tension sous obscurité et sous éclairement d’une cellule solaire nous permet d’établir les performances électriques de la cellule. a. Diode idéale Une cellule photovoltaïque est assimilée à une diode classique. La diode est un composant électronique qui ne laisse passer le courant que dans un sens, de l’anode vers la cathode. C'est le sens passant, ou direct (interrupteur fermé). Le sens où aucun courant ne passe est le sens bloqué, ou inverse (interrupteur ouvert). C'est donc un composant polarisé. Figure 9. Caractéristique idéalisée d’une diode L’équation du courant circulant dans une diode est : (Eq.1) ( ) I : Courant de la diode (A), Isat : Courant de saturation (A), K : Constante de Boltzman (1,381.10-23 J/K) T : Température de la jonction (K), q : Charge d’un électron (C), n : Facteur de non idéalité de la jonction, V : Tension de la diode (V) b. Diode non idéale La cellule sous éclairement correspond à une diode non idéale. Sur le schéma électrique décrit par la Figure 10, le générateur de courant correspond au courant photogénéré IL. L’ensemble des pertes résistives de la cellule est matérialisé par la résistance série Rs et la résistance parallèle Rsh. La diode D correspond au courant produit par l’émetteur n+ et la base p de la cellule. 10 Cuartero Elsa / DUT Mesures Physiques / 2013 / IUT de Montpellier Figure 10. Schéma électrique équivalent d’une cellule photovoltaïque Le régime électrique statique d’une cellule photovoltaïque constituée d’une jonction PN en silicium peut être décrit via l’équation suivante : (Eq.2) [ ( ) ] Icc : le courant produit par la cellule lorsqu’elle est mise en court-circuit (A), Rsh : la résistance modélisant les courants de fuites de la jonction (Ω), Rs : la résistance série caractérisant les diverses résistances de contacts et de connexions (Ω). La résistance série doit idéalement être la plus faible possible pour limiter son influence sur le courant de la cellule, à l’inverse la résistance shunt doit être la plus élevée possible (Pour une diode idéale Rs = 0 et Rsh = ∞). c. Paramètres électriques principaux Les paramètres électriques principaux sont : Le courant de court-circuit Icc : courant lorsque le potentiel appliqué à la cellule est nul. C’est le plus grand courant que la cellule puisse fournir. Celui-ci est fonction de la température, de la longueur d’onde du rayonnement, de la surface active de la cellule, de la mobilité des porteurs et est linéairement dépendant de l’intensité lumineuse reçue. La tension de circuit ouvert Voc : potentiel maximum que la cellule puisse fournir, lorsque le courant est nul. Les pertes de charge aux interfaces matériau-électrode affectent cette valeur. La Voc décroît légèrement avec la temperature et varie peu avec l’intensité lumineuse reçue. Le Facteur de Forme ou Fill Factor (FF) : coefficient qui représente le rapport entre la puissance maximale que peut délivrer la cellule notée Pmax et la puissance formée par le produit Icc*Voc. Plus la valeur de ce facteur sera grande, plus la puissance exploitable le sera également. Le rendement η : rendement de conversion en puissance. Il est définit comme étant le rapport entre la puissance maximale délivrée par la cellule et la puissance lumineuse incidente. Le courant inverse Irev : courant en polarisation inverse sous obscurité. La figure 11 montre la caractéristique courant-tension d’une cellule photovoltaïque à l’obscurité et sous éclairement. 11 Cuartero Elsa / DUT Mesures Physiques / 2013 / IUT de Montpellier La caractéristique courant-tension sous obscurité est celle d’une diode (récepteur). Sous éclairement, cette caractéristique se décale vers les courants négatifs, la cellule solaire peut alors jouer le rôle de générateur de puissance. Figure 11. Caractéristiques I-V sous obscurité et sous éclairement d’une cellule photovoltaïque Le courant Im et la tension Vm sont obtenus au point de puissance maximale de fonctionnement de la cellule. La tension de circuit ouvert Voc est la tension aux bornes de la cellule pour un courant nul. La résistance série est l’inverse de la pente de la courbe courant-tension au point (V >Voc, 0) La résistance Shunt est l’inverse de la pente de la courbe courant-tension au point (0, Icc) Dans le cas d’une cellule solaire idéale, on peut écrire l’équation 3 pour exprimer Voc. (Eq.3) Le facteur de forme FF caractérise l’idéalité de la cellule. Son expression est donnée par l’équation 4. (Eq.4) Enfin, à partir des paramètres Icc, Voc et FF, il est possible de calculer le rendement de conversion η grâce à l’équation 5. (Eq.5) Avec Pi : puissance incidente reçue par unité de surface en W.m-2 S : surface de la cellule en m² 12 Cuartero Elsa / DUT Mesures Physiques / 2013 / IUT de Montpellier Pour faciliter la comparaison des performances des cellules entre elles, des conditions standards d’éclairement (norme pour les appareils de mesure I-V) ont été définies pour la caractérisation des cellules, à savoir une illumination suivant le spectre AM1,5G (G pour global, c'est-à-dire prenant en compte les radiations directes et diffuses), c’est à dire à une puissance de 1kW.m-2, à une température de 25°C. C’est ce qu’on appelle un éclairement «sous 1 soleil». Afin que les appareils de mesures I-V donne des valeurs certifiées, il est indispensable de les calibrer en suivant des normes. La calibration sera expliquée dans le chapitre suivant. Conclusion : Une cellule photovoltaïque est constituée d’une jonction PN créée par deux matériaux différents en contact. Celle-ci permet la création d’un courant électrique dans la cellule à partir du rayonnement solaire. La collecte du courant est assurée par deux électrodes de chaque cotés de la cellule. Cette structure est assimilable à une diode associée à un générateur de courant (courant photo généré) et à des résistances (les pertes résistives). La caractéristique courant-tension nous permet alors d’obtenir les paramètres électriques de la cellule. C’est ce que nous allons étudier expérimentalement dans le chapitre suivant. 13 Cuartero Elsa / DUT Mesures Physiques / 2013 / IUT de Montpellier Etude expérimentale I. Caractérisation des cellules Le prix de vente d’une cellule dépend de son rendement. C’est pourquoi il est important pour Irysolar de connaitre cette valeur de manière fiable. Pour cela nous disposons d’appareils permettant de mesurer les paramètres électriques décrits dans le chapitre précédent. L’extraction de données nous permettra alors de juger de la fiabilité des appareils mais également de connaitre les facteurs impactent significativement sur le rendement de la cellule. a. Protocole Les cellules sont classées en fonction de leur efficacité. Une efficacité maximale correspond à la classe A, on diminue dans les classes par delta de 0,2%. Les mesures seront faites sur des cellules de la production (multicristalline de type p) allant de la classe A jusqu’à la classe H. Les caractéristiques de chacune vont être établies grâce à trois appareils différents : le PV measurement, le PV test et le Pasan. Le Pasan correspond au testeur de production, les deux autres sont destinés pour le moment à la recherche et développement. 8 classes de A à H 5 cellules par classe 40 cellules provenant de la production Polarisation inverse (dark) 4 mesures par cellule Pasan PV test Figure 12. PV measurement Protocole de mesures On extrait de ces mesures l’efficacité (η), le Facteur de Forme (FF), la résistance série, la résistance shunt, la tension en circuit ouvert (Voc), le courant de court-circuit (Icc), et le courant inverse à -10V (Irev(-10V)). La résistance série et la résistance shunt sont également recalculées à partir des données, courant-tension en polarisation inverse. Pour cela on calcule la pente de la courbe proche du Voc pour la résistance série et pour la résistance shunt on calcule la pente proche du Icc. 14 Cuartero Elsa / DUT Mesures Physiques / 2013 / IUT de Montpellier b. Appareils On utilise pour les mesures de caractéristique des cellules trois flash testeur : Le Pasan, le PV measurement et le PV test. Cela nous permet de comparer les caractéristiques des cellules de production de différentes classes en fonction de l’appareil. Ils fonctionnent selon le principe suivant (figure 13): Afin de se rapprocher des conditions réelles d’ensoleillement (spectre AM1.5, 25°C, 1000W/m²), l’illumination est réalisée par une lampe au xénon à laquelle sont rajoutés des filtres qui permettent de restituer un spectre se rapprochant du spectre solaire. La cellule est mesurée sur un socle en cuivre régulé en température. Pour chaque tension imposée, un micro-régulateur sélectionne la résistance adaptée et mesure à ses bornes une tension, qui permet à son tour la détermination du courant via la loi d’Ohm. En balayant ainsi en tension, la caractéristique I(V) complète peut être obtenue. Un logiciel traite ensuite les données pour en extraire le courant de court-circuit Icc, la tension de circuit ouvert Vco, la puissance maximale Pmax, le facteur de forme FF et le rendement de conversion η. Figure 13. Structure d’un simulateur solaire Pour pouvoir faire des mesures fiables il est important de calibrer l’appareil. Pour cela il existe une norme (IEC) à suivre. Nous avons également besoin d’une cellule de calibration. Il faut donc envoyer des cellules fabriquées à Irysolar à un laboratoire agréé (ISE Fraunhofer, NREL). Celui-ci renvoie alors les cellules avec les valeurs certifiées de l’Icc, du Voc, du FF et du rendement (cf. annexe 1). Ensuite grâce à ces cellules on règle l’intensité du flux lumineux et on applique des facteurs de correction afin de retrouver les valeurs certifiées. 15 Cuartero Elsa / DUT Mesures Physiques / 2013 / IUT de Montpellier c. Résultats J’ai traité mes données via le logiciel Jmp. Il permet une analyse plus complète et plus rapide que sous Excel. Les données comprennent les mesures de cinq cellules par classes combinées à quatre mesures pour chaque cellule (figure 12). La figure 14, regroupe les valeurs moyennes pour chaque classe. Étiquettes de lignes A Pasan PV measurement PV test B Pasan PV measurement PV test C Pasan PV measurement PV test D Pasan PV measurement PV test E Pasan PV measurement PV test F Pasan PV measurement PV test G Pasan PV measurement PV test H Pasan PV measurement PV test Total général Valeurs Résistance shunt (Ohm) FF (%) 21 13 18 28 18 13 15 24 19 10 15 27 19 11 13 29 16 11 10 28 14 13 10 20 13 8 10 18 11 8 8 17 17 79,84 79,88 80,06 79,60 79,66 79,69 79,77 79,52 79,32 79,39 79,37 79,20 79,29 79,49 79,25 79,14 79,18 79,26 79,20 79,07 79,29 79,48 79,43 78,96 78,43 78,56 78,64 78,10 78,08 78,00 77,94 78,38 79,16 Figure 14. Résistance série (mOhm) Voc (V) 4,33 4,76 4,02 4,27 4,29 4,72 4,19 4,13 4,42 4,70 4,47 4,24 4,42 4,76 4,48 4,22 4,67 4,85 4,41 4,75 4,44 4,80 4,37 4,30 4,61 4,98 4,68 4,40 4,51 4,96 4,30 4,35 4,45 Irev(-10V) (A) 0,622 0,618 0,625 0,622 0,620 0,617 0,624 0,618 0,617 0,613 0,621 0,618 0,614 0,609 0,617 0,614 0,611 0,608 0,614 0,612 0,613 0,608 0,616 0,615 0,609 0,605 0,611 0,611 0,606 0,602 0,609 0,604 0,614 Eff (%) 0,088 0,090 0,087 0,111 0,109 0,114 0,066 0,056 0,075 0,066 0,064 0,069 0,101 0,100 0,102 0,044 0,046 0,043 0,708 0,702 0,714 1,193 1,173 1,217 0,275 Isc (A) 16,93 16,77 17,15 16,87 16,85 16,70 17,05 16,80 16,65 16,46 16,81 16,67 16,46 16,28 16,60 16,50 16,35 16,16 16,46 16,41 16,19 15,96 16,37 16,23 15,92 15,74 16,09 15,95 15,63 15,48 15,79 15,63 16,39 8,300 8,268 8,338 8,293 8,304 8,270 8,334 8,307 8,274 8,230 8,300 8,293 8,233 8,185 8,260 8,254 8,212 8,156 8,243 8,226 8,110 8,041 8,148 8,142 8,110 8,055 8,143 8,132 8,049 8,021 8,094 8,028 8,202 Tableau général récapitulatif Les données sont interprétées graphiquement. Ces graphiques sont reportés dans un rapport interne (cf. annexe 2), afin de rendre compte des différences entre les appareils de mesure. Les écarts moyens sont calculés par rapport au Pasan (référence). Les résultats principaux de ces mesures sont présentés ci- dessous : 16 Cuartero Elsa / DUT Mesures Physiques / 2013 / IUT de Montpellier Figure 15. Graphique de l'efficacité en fonction des équipements et des différentes classes On remarque dans la figure 14 que le PV measurement donne l’efficacité la plus élevée et le Pasan l’efficacité la plus basse. On a bien une diminution du rendement lorsque l’on diminue dans les classes. Par contre, la corrélation n’est pas linéaire. Le rendement théorique est de 17% pour la classe A et diminue par pas de 0,2% pour les classes inférieur jusqu’à 15,4% pour la classe H. Dans l’ensemble, le Pasan est le plus proche des valeurs théoriques. Les deux autres appareils ont tendance à surévaluer le rendement. L’écart moyen entre Pasan et PVmeas est de 0,35% et entre Pasan et PVtest de 0,21%. Figure 16. Graphique de la résistance shunt en fonction des équipements, des classes et de la méthode 17 Cuartero Elsa / DUT Mesures Physiques / 2013 / IUT de Montpellier La résistance shunt diminue en fonction de la classe, ce qui concorde avec la baisse d’efficacité. Théoriquement, plus la résistance shunt est élevée (tend vers l’infini) plus on se rapproche d’une diode idéale. Une valeur de résistance shunt trop faible (inférieur à 20Ω) fait chuter le facteur de forme (FF). On s’aperçoit ici que les valeurs sont très basses (pour les classes G et H certaines valeurs proches de 0) et que le FF plutôt élevé. On peut donc avoir un doute sur la fiabilité de la mesure de la résistance shunt. La résistance shunt et le courant inverse sont liés (cf. Annexe 2). C’est pourquoi des mesures en polarisation inverse ont été effectuées afin d’avoir une analyse plus détaillée et plus fiable. Figure 17. Graphique du Irev en fonction des classes Le Pasan ne permet pas de faire des mesures en courant inverse. Les valeurs du PV measurement et du PV test sont proches (l’écart moyen entre PVmeas et PVtest est de 14mA). Irev(-10V) augmente à partir de la classe G. Quand la Rsh devient très faible, Irev augmente brusquement. On peut voir que certaines cellules faisant partie des classes G et H ont des valeurs basses de courant inverse. Leur rendement faible ne vient donc pas d’un problème lié au courant inverse. De manière générale, le courant inverse permet de conclure sur la qualité d’isolation entre les deux faces de la cellule. Il rend compte de problèmes dû au processus de fabrication ou dû au matériau. Ces problèmes seront étudiés dans la suite du rapport. 18 Cuartero Elsa / DUT Mesures Physiques / 2013 / IUT de Montpellier Figure 18. Résumé des caractéristiques en fonction des équipements Nous remarquons que le Pasan a des valeurs plus basses dans l’ensemble par rapport aux deux autres appareils. On peut expliquer les différences entre les appareils par les paramètres résistifs des appareils, car le dispositif de mesure de chacun engendre une résistance supplémentaire à celle de la cellule. Pour pouvoir conclure sur de différences significatives entre les valeurs données par chaque appareil, il faut prendre en compte la tolérance, donnée dans les certifications de calibration (cf. Annexe 1), de chacun des paramètres. Par exemple l’institut de calibration nous donne pour le fill facteur (FF) une tolérance de plus ou moins 0,51%. L’écart maximum entre les valeurs du FF donnée par les appareils est de 0,455%. On peut donc en conclure que la différence même importante ne peut être considérée comme significative. Ce qui n’est pas le cas pour le rendement. Car on nous donne une tolérance de 0,34% pour le rendement et ici, nous avons un écart de 0,38% pour la classe A. Le Voc varie avec la température et l’Isc. Lorsque la température réelle de la cellule mesurée diminue le Voc augmente et lorsque l’Isc augmente le Voc augmente. L’Isc varie en fonction du flux lumineux, il peut être corrigé via la calibration de l’appareil. Et le Fill Factor varie en fonction de la qualité de la diode, du paramètre résistif et de l’isolation de la cellule. Le Voc, l’Isc et le FF sont les paramètres ayant une influence directe sur l’efficacité. Pour donner un ordre d’idée, pour faire varier l’efficacité de 0,1%, il faut une variation du FF de 0,5% ou bien une variation du Voc de 3mV ou encore une variation de l’Icc de 50mA. 19 Cuartero Elsa / DUT Mesures Physiques / 2013 / IUT de Montpellier II. Analyse des shunts En pratique, la conversion d'énergie lumineuse en énergie électrique n'est pas totale. Différentes pertes viennent influencer le rendement d’une cellule. Elles sont dans la plupart des cas dues à la nature du matériau et à la technologie utilisée. Le rendement de la cellule est affecté par les pertes résistives. Le premier type de perte est dû aux pertes en puissance dues à la résistivité des différents éléments de la cellule solaire : ce sont les résistances série. Le deuxième type de perte est dû aux résistances parallèles (résistance Shunt), causée en général par des courants de fuites sur les bords de la cellule ou par la présence de courts-circuits au niveau de l’émetteur. Figure 19. Caractéristique IV sous éclairement mettant en valeur les effets des résistances parasites. Parmi les disfonctionnements des cellules l’un des plus importants est le phénomène de shunt. Le shunt est une augmentation locale du courant sous obscurité de la cellule. Les shunts diffèrent par leur caractéristique courant-tension (linéaire ou non-linéaire) et par leur origine physique. a. Appareils de caractérisation des problèmes de shunt Pour visualiser les problèmes de résistances shunt nous avons à notre disposition un appareil d’électroluminescence et un banc expérimental de mesure par caméra infrarouge des points chauds. Ce banc de mesure a été conçu par un précédent stagiaire en Master 1. L’électroluminescence (figure 20) L’électroluminescence est un processus de mesure par imagerie permettant d’étudier les cellules photovoltaïque sous imagerie et donc de détecter les défauts éventuels qui risqueraient d’altérer non seulement la puissance mais également la durée de vie du module. Une tension externe est appliquée aux bornes de la cellule. Cela provoque une recombinaison des électrons dans la cellule, qui provoque à son tour une émission de photons. La cellule produit un rayonnement dans le domaine proche infrarouge, c'est-à-dire non visible par l’œil humain. Ce rayonnement de photons est enregistré par une caméra électroluminescente. 20 Cuartero Elsa / DUT Mesures Physiques / 2013 / IUT de Montpellier De manière générale : plus le rayonnement de photons émis par une partie de la cellule est important, plus cette partie sera active lors de la production d’électricité de la cellule. Parmi les facteurs non visibles à l’œil nu mais risquant d’avoir des conséquences extrêmement négatives sur les performances des modules et sur leur durée de vie, citons : Les microfissures et les éclats les salissures à l’intérieur de la cellule, les défauts de cristallisation dans un wafer, les problèmes de sérigraphie… Les imperfections et défauts cités ci-dessus peuvent être détectés en quelques secondes au cours d’une mesure d’électroluminescence et permettent de tirer des conclusions sur la qualité des matériaux et sur la fabrication des cellules testés. Figure 20. Appareil d’électroluminescence Imagerie thermique En imagerie infrarouge le procédé de détection de shunt consiste en la détection des points chauds localisés dans les cellules lorsque celles-ci sont soumises à une tension externe sous obscurité. Afin de détecter ces points chauds un prototype a été mis au point à Irysolar par Florian Verry, ancien stagiaire en Master 1. Ce prototype (figure 2&) permet d’assurer un contact direct entre les rubans d’alimentation et les Busbars en face avant et arrière de la cellule étudiée. Grace à une caméra infrarouge il est possible de visualiser les points chauds de la cellule sous tension. Ces points chauds correspondent à des courants de fuite indiquant des défauts localisés. 21 Cuartero Elsa / DUT Mesures Physiques / 2013 / IUT de Montpellier Figure 21. Premier prototype de Shunt b. Manipulation Grâce aux mesures précédentes nous avons pu voir que les cellules à partir de la classe G connaissaient une forte augmentation du courant inverse ainsi qu’une baisse de la résistance shunt. Nous allons donc nous concentrer sur les cellules des classes F, G et H afin de visualiser les défauts présents. Nous avons la possibilité pour les deux systèmes de mesure de polariser la cellule en direct ou en inverse. Cela nous permet de vérifier si l’on retrouve les défauts dans les deux cas et donc de conclure sur le type de shunt. L’électroluminescence en polarisation directe (fonctionnement normal) nous permet de visualiser les défauts principaux (vu précédemment). La polarisation inverse permet d’observer les courants de fuite (problème d’isolation, phénomène de recombinaison). Voici l’image d’une « bonne » cellule, c'est-à-dire sans problème de shunt. Le point chaud que l’on observe est du à un mauvais contact entre le busbar du milieu et les contacts métalliques du prototype. Sa température est relativement basse. On peut donc considérer le défaut comme négligeable. Figure 22. Image thermique d’une cellule sans problème de shunt 22 Cuartero Elsa / DUT Mesures Physiques / 2013 / IUT de Montpellier Voici les shunts observés sur les cellules étudiées : Shunt du à un problème de sérigraphie : On peut voir sur l’image thermique (figure 2 ») un point chaud au niveau du premier busbar. On peut donc en déduire qu’il y a un défaut de métallisation à ce niveau. Il peut être causé par plusieurs paramètres. Soit à une rupture de ligne, dans ce cas une observation au microscope le confirme. Soit un défaut au niveau de l’émetteur qui est shunté par une pénétration trop importante de l’Argent. (Emetteur trop fin à certains endroits, une irrégularité du wafer avec présence ou pas de craquelures). On observe ici, une température allant jusqu’à de 151°C. On sait que plus la température est élevée plus les fuites de courant sont grandes. Nous avons un problème important sur cette cellule qui peut engendrer des conséquences néfastes sur un module. Ce problème peut provenir d’un crack. Figure 23. Image en électroluminescence directe (à gauche) et image thermique (à droite) de la cellule H1 Shunt du à une impureté : Sur la cellule H2 on observe un défaut du matériau grâce à l’image thermique qu’on ne visualise pas sur l’électroluminescence. Il peut être causé par une mauvaise qualité du matériau mais peut être également causé par une contamination par particule d’aluminium. Pour pouvoir déterminer précisément la cause exacte, il faut regarder la tranche de la cellule au niveau du point chaud au microscope. Figure 24. Image en électroluminescence directe (à gauche), indirect (au milieu) et image thermique (à droite) de la cellule H2 23 Cuartero Elsa / DUT Mesures Physiques / 2013 / IUT de Montpellier Shunt du à un problème d’ouverture de jonction : Sur la figure 25, on visualise deux points chauds, on peut penser à un problème d’ouverture de jonction au niveau du coin en haut à droite car sur l’image d’électroluminescence en polarisation inverse on observe la même signature sur le contour de la cellule qui indique un courant plus important à ce niveau. Des forts courants de recombinaison ont lieu sur le bord de la plaque. Ces problèmes sont dus à l’appareil (TEPLA) qui permet d’isoler la face avant de la face arrière. Cette étape est réalisée par gravure plasma. Dans le cas ou la gravure plasma n’est pas suffisante, on retrouve un problème d’isolation. Les cellules sont alors dites « shuntées ». Figure 25. Image en électroluminescence directe (à gauche), indirect (au milieu) et image thermique (à droite) de la cellule H4 D’autre système d’ouverture existe. Par exemple, nous avons pu étudier l’ouverture par laser. Cette méthode nécessite un réglage adéquat. Dans le cas inverse on visualise nettement un problème d’ouverture de jonction sur les bords (figure 26). Figure 26. Image thermique d’une cellule avec isolation par laser c. Amélioration du banc de mesure par infrarouge Le prototype utilisé pour les mesures thermiques avait déjà subi une amélioration mais n’est pas utilisable pour le contrôle en production. En effet le système actuel possède plusieurs contraintes qui ne permettent pas d’être utilisé dans un cadre industriel (Problème système de fermeture, contacts électriques). C’est pourquoi une réflexion s’est portée sur le développement d’un système plus évolué et ayant la possibilité d’être industrialisable. J’ai donc rédigé un cahier des charges ainsi que des schémas de l’appareil afin de répondre au besoin de l’entreprise (cf. annexe 3). 24 Cuartero Elsa / DUT Mesures Physiques / 2013 / IUT de Montpellier Dans un premier temps il a fallu la fonction précise de l’appareil. Le but étant la caractérisation des points chauds par infrarouge sur cellule photovoltaïque type n et type p, afin de permettre l’identification des problèmes de résistance shunt par une méthode rapide. Puis, il a fallu identifier les contraintes techniques : - Le socle de mesure : la taille, les matériaux, la présence de trou pour laisser passer les pointes de contact - Le support des pointes de mesure : automatisation du mouvement - La polarisation du système : possibilité de changement de polarité - L’encapsulation du système : problème de reflets - L’alimentation : entre 0V et 15V - Le tiroir : détection de fermeture - La récupération des données : connexion entre la caméra IR et un ordinateur Je me suis inspirée de systèmes déjà existants sur des appareils dans l’entreprise pour le fonctionnement de certaines parties du banc de mesure. Comme par exemple sur le PV measurement, le système de verin hydraulique permettant la baisse des pointes de contacts mais aussi son système de déplacement latéral des barrettes de contact sur son cadre (figure 27). Sur l’appareil d’électroluminescence le système de tiroir et d’encapsulation (figure 27). Figure 27. PV measurement (à gauche) et appareil d’électroluminescence (à droite) Celui-ci est en cours de réalisation. La livraison est prévu pour Aout. Fonctionnement : Mise en route de l’appareil. Positionnement de la cellule sur le tiroir prévu. Fermeture du tiroir. Si besoin, réglage latérale des contacts métalliques (pointes) pour les aligner sur les busbars de la cellule (figure 27). Baisse de ces contacts grâce à un commutateur (contact ON, figure 28). Mise en route du boitier d’alimentation. Possibilité d’alimentation en direct ou en inverse grâce à un commutateur. Fermeture de la porte pour mettre la cellule sous obscurité et donc éviter les reflets. Prise de la photographie de la cellule grâce à la caméra infrarouge. Visualisation sur ordinateur. Les figures 28 et 29 représentent l’appareil sous logiciel de dessin assisté par ordinateur. 25 Cuartero Elsa / DUT Mesures Physiques / 2013 / IUT de Montpellier Figure 28. Figure 29. Schéma de l’appareil de détection des points chauds, vue globale Schéma de l’appareil de détection des points chauds, vue en coupe des pointes remontées (image de gauche) et en contact avec la cellule (image de droite) 26 Cuartero Elsa / DUT Mesures Physiques / 2013 / IUT de Montpellier Conclusion : Dans un premier temps, j’ai effectué des mesures sur des cellules de la production avec des simulateurs solaires (flash testeur). Nous avons alors pu nous rendre compte des différences de valeur entre les trois appareils. Le Pasan (utilisé pour la production) donne des valeurs de rendement plus basses. Ces mesures conservatrices, assure une marge d’erreur à Irysolar préservant le client de toutes mauvaises surprises. Nous nous sommes également rendu compte d’un disfonctionnement de la cellule dû au phénomène de shunt. Une étude complémentaire de visualisation des courants de fuite par électroluminescence et par imagerie thermique (IR) a permis d’identifier l’origine des défauts présents (étape du processus de fabrication, matériaux). J’ai travaillé sur la réalisation d’un appareil permettant l’intégration du contrôle automatisé de ces défauts de shunt dans la ligne de production. Ceci permettra une diminution des cellules de mauvaises qualités grâce à des actions de correction immédiate. 27 Cuartero Elsa / DUT Mesures Physiques / 2013 / IUT de Montpellier Conclusion générale et perspectives Les travaux présentés dans ce rapport concernent les cellules photovoltaïques au silicium multicristallines de type p. L’étude de la chaine de fabrication de ces cellules et de leur fonctionnement m’ont permis de mieux comprendre les enjeux et les aboutissements du développement de cette technologie. Dans un premier temps nous avons procédé à une étude basée sur la comparaison de caractéristiques électriques en fonction des classes de rendement et des appareils de mesure. Cette étude a permis d’évaluer les trois appareils de mesure I-V. Mais surtout d’identifier l’influence des différents paramètres électriques sur le rendement des cellules. Il est apparu qu’il existait pour certaines cellules un courant de fuite important qui entraine une baisse du rendement et une baisse de la durée de vie des cellules. Irysolar à quelques difficultés à vendre les cellules de faibles classes. De plus leur prix de vente étant faible, ces cellules ne rapportent pas grand chose. L’identification des défauts et de leur origine permettrait de les corriger et donc d’augmenter les gains pour Irysolar. Je me suis donc penchée sur l’étude des shunts. Les cellules à faibles rendement ont été étudiées sous électroluminescence et sous caméra infrarouge. Ceci nous a révélé des pertes de courant dû à des défauts liés au matériau, mais plus couramment des défauts liés à la production. Pour pouvoir contrôler les cellules de la production en continu, Irysolar à besoin d’un appareil automatisé. Un tel appareil de caractérisation des courants de fuite n’existe pas dans le commerce. Nous avons donc décidé d’améliorer le prototype de mesure par infrarouge. Pour cela il m’a fallu rédiger un cahier des charges puis soumettre le projet à SEMCO Engineering (équipementier). SEMCO s’occupe actuellement de la conception de l’appareil. Après validation de l’appareil par Irysolar, celui-ci pourra être fabriqué de manière industrielle et être vendu à des entreprises dans le domaine du photovoltaïque. J’aurai l’occasion par la suite de voir l’appareil finalisé, car j’ai l’opportunité de continuer à travailler au sein d’Irysolar durant les vacances d’été. 28 Cuartero Elsa / DUT Mesures Physiques / 2013 / IUT de Montpellier Bibliographie 1. EQUER Bernard. Énergie solaire photovoltaïque - vol. 1, Physique et technologie de la conversion photovoltaïque. Edition ellipses. 1998. 2. BERNARD Jacques. Technosup : Génie énergétique. Chapitre VII : Les cellules photovoltaïques. 3. Rapport de stage, Very Florian. Montage d’un système de révélation des shunts électriques sur les cellules photovoltaïque au Silicium. 2011. Master 1 EEA UM2. 4. http://pveducation.org/ 5. http://theses.insa-lyon.fr/publication/2011ISAL0032/these.pdf 6. http://theses.insa-lyon.fr/publication/2011ISAL0111/these.pdf 7. http://www.scor.com/PandC_docs/Focus_TechniquesPhotovolta%C3%AFques_%20 Mars2011%20.pdf 8. http://theses.insa-lyon.fr/publication/2005ISAL0028/these.pdf 9. http://tel.archivesouvertes.fr/docs/00/63/52/22/PDF/VD_FAVRE_WILFRIED_30092011.pdf 10. http://www.prepa-cpe.fr/documents/Les_cellules_photovoltaiques.pdf 11. http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/05/37/34/PDF/these_amel_Finale.pdf 12. http://www.ummto.dz/IMG/pdf/memoire-18.pdf 13. http://ori-oai.u-bordeaux1.fr/pdf/2010/BAILLY_LOIC_2010.pdf 14. http://thesesups.ups-tlse.fr/504/1/Petibon_Stephane.pdf 15. http://www.pvresources.com/Standards/SolarCellsModules.aspx 16. http://www.iec.ch/ 17. http://www.energieplus-lesite.be/index.php?id=16679 29 Cuartero Elsa / DUT Mesures Physiques / 2013 / IUT de Montpellier Table des figures Figure 1. Figure 2. Figure 3. Figure 4. Figure 5. Figure 6. Figure 7. Figure 8. Figure 9. Figure 10. Figure 11. Figure 12. Figure 13. Figure 14. Figure 15. Figure 16. Figure 17. Figure 18. Figure 19. Figure 20. Figure 21. Figure 22. Figure 23. Figure 24. Figure 25. Figure 26. Figure 27. Figure 28. Figure 29. Synoptique de l’entreprise ....................................................................................... 2 Chiffre d’affaires de Semco Engineering................................................................. 3 Ligne de production Irysolar des cellules multicristallines ..................................... 4 Structure d’une cellule en silicium de type p ........................................................... 5 Tableau des différentes étapes de fabrications ......................................................... 5 Représentation des spectres solaires AM0, AM1.5D et AM1.5G en fonction de la longueur d’onde ....................................................................................................... 8 Dopage de type n (à gauche) et dopage de type p (à droite) .................................... 8 Schéma de la structure et diagramme de bande d’une cellule photovoltaïque en silicium de type p .................................................................................................... 9 Caractéristique idéalisée d’une diode .................................................................... 10 L’équation du courant circulant dans une diode est : ............................................ 10 Schéma électrique équivalent d’une cellule photovoltaïque ................................. 11 Caractéristiques I-V sous obscurité et sous éclairement d’une cellule photovoltaïque ....................................................................................................... 12 Protocole de mesures ............................................................................................. 14 Structure d’un simulateur solaire .......................................................................... 15 Tableau général récapitulatif ................................................................................ 16 Graphique de l'efficacité en fonction des équipements et des différentes classes. 17 Graphique de la résistance shunt en fonction des équipements, des classes et de la méthode ................................................................................................................. 17 Graphique du Irev en fonction des classes ............................................................ 18 Résumé des caractéristiques en fonction des équipements ................................... 19 Caractéristique IV sous éclairement mettant en valeur les effets des résistances parasites. ................................................................................................................ 20 Appareil d’électroluminescence ............................................................................ 21 Premier prototype de Shunt .................................................................................. 22 Image thermique d’une cellule sans problème de shunt ........................................ 22 Image en électroluminescence directe (à gauche) et image thermique (à droite) de la cellule H1 ........................................................................................................... 23 Image en électroluminescence directe (à gauche), indirect (au milieu) et image thermique (à droite) de la cellule H2 .................................................................... 23 Image en électroluminescence directe (à gauche), indirect (au milieu) et image thermique (à droite) de la cellule H4 .................................................................... 24 Image thermique d’une cellule avec enlèvement au laser ..................................... 24 PV measurement (à gauche) et appareil d’électroluminescence (à droite) ........... 25 Schéma du shuntmètre, vue globale ...................................................................... 26 Schéma du shuntmètre, vu en coupe des pointes remontés (image de gauche) et en contact avec la cellule (image de droite) ............................................................... 26 30 Cuartero Elsa / DUT Mesures Physiques / 2013 / IUT de Montpellier Annexes 31 Cuartero Elsa / DUT Mesures Physiques / 2013 / IUT de Montpellier Annexe 1 : Certificat de calibration 32 Cuartero Elsa / DUT Mesures Physiques / 2013 / IUT de Montpellier 33 Cuartero Elsa / DUT Mesures Physiques / 2013 / IUT de Montpellier 34 Cuartero Elsa / DUT Mesures Physiques / 2013 / IUT de Montpellier Annexe 2 : Rapport interne – Test comparatif des différents appareils de mesure I(V) 35 Cuartero Elsa / DUT Mesures Physiques / 2013 / IUT de Montpellier 36 Cuartero Elsa / DUT Mesures Physiques / 2013 / IUT de Montpellier 37 Cuartero Elsa / DUT Mesures Physiques / 2013 / IUT de Montpellier 38 Cuartero Elsa / DUT Mesures Physiques / 2013 / IUT de Montpellier 39 Cuartero Elsa / DUT Mesures Physiques / 2013 / IUT de Montpellier 40 Cuartero Elsa / DUT Mesures Physiques / 2013 / IUT de Montpellier 41 Cuartero Elsa / DUT Mesures Physiques / 2013 / IUT de Montpellier 42 Cuartero Elsa / DUT Mesures Physiques / 2013 / IUT de Montpellier 43 Cuartero Elsa / DUT Mesures Physiques / 2013 / IUT de Montpellier 44 Cuartero Elsa / DUT Mesures Physiques / 2013 / IUT de Montpellier Annexe 3 : Cahier des charges pour appareil de mesure de courant de fuite 45 Cuartero Elsa / DUT Mesures Physiques / 2013 / IUT de Montpellier 46 Cuartero Elsa / DUT Mesures Physiques / 2013 / IUT de Montpellier 47 Cuartero Elsa / DUT Mesures Physiques / 2013 / IUT de Montpellier 48 Cuartero Elsa / DUT Mesures Physiques / 2013 / IUT de Montpellier 49 Cuartero Elsa / DUT Mesures Physiques / 2013 / IUT de Montpellier Annexe 4 : Schémas de l’appareil de mesure 50 Cuartero Elsa / DUT Mesures Physiques / 2013 / IUT de Montpellier 51 Cuartero Elsa / DUT Mesures Physiques / 2013 / IUT de Montpellier 52 Cuartero Elsa / DUT Mesures Physiques / 2013 / IUT de Montpellier 53 Cuartero Elsa / DUT Mesures Physiques / 2013 / IUT de Montpellier