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2 - 3 Juin 2014
NANCY
Matière, Matériaux, Métallurgie, Mécanique (M4)
Comité d’organisation
Jean-Nicolas AUDINOT (Inst. Lippmann-Luxembourg), Philippe BIENVENU (CEA-St Paul lez Durance),
Etienne DELOULE (CRPG-Nancy), Jean-Luc GUERQUIN-KERN (Inst. Curie-Orsay),
François HORREARD (AMETEK/CAMECA-Gennevilliers), Didier LOISON (Arcelor Mittal-Maizières-les-Metz)
Denis MANGIN (IJL-Nancy), Mathieu PEDROT (Géosciences-Rennes1), David PINCEAU (ST MicroélectroniqueCrolles), Nathalie VALLE (Inst. Lippmann-Luxembourg), Marc VEILLEROT (CEA- Grenoble)
Programme du Lundi 2 juin 2014
CRPG - Nancy
8h45 - 9h15 : Accueil des participants
9h15 - 10h : Allocution de bienvenue. Retours sur le sondage et l’annuaire
10h - 10h15 : Pause
10h15 - 12h15 : Session 1 : développements analytiques
Jérôme ALÉON : Principes généraux de l’analyse isotopique par sonde ionique (SIMS). Application
à la mesure des isotopes stables
Ting-Di WU : Cartographie du rapport isotopique D/H : utilisation d’ions poly-atomiques avec le
NanoSIMS en condition de haute résolution en masse
Jean-Nicolas AUDINOT : Imagerie corrélative type SIMS, /AFM/TEM/SEM
Denis MANGIN : Méthode alternative de réglage du canon à électrons
Nathalie VALLE : Analyse du carbone dans des aciers par nano-analyse SIMS
Viktoriia GORBENKO : Going beyond the lateral resolution of SIMS depth profiling
Etienne DELOULE : Datation in situ par microsonde ionique des longues périodes (U/Pb, K/Ca)
aux courtes périodes (U/Th, U/Ra).
12h15 - 14h : Pause déjeuner - Posters
14h - 16h : Session 2 : Forum utilisateurs - gestion des instruments, pannes et dépannages
David PINCEAU : Site internet du Réseau Utilisateurs Francophones SIMS Cameca
16h - 16h15 : Pause
16h15 - 18h : Visite
du CRPG
20h : Dîner en ville
1ères journées francophones des
utilisateurs de sondes ioniques
Art Nouveau : Volubilis
NANCY - 2014
Programme du Mardi 3 juin 2014
IJL - Nancy
8h45 - 10h15 : développement de standards , quantification des mesures et préparation
des échantillons
Didier LOISON : Application du SIMS à la caractérisation de produits destinés au marché
automobile ; apport de la quantification
Maurice QUILLEC : Etalons pour analyse SIMS quantitative
Ingrid ROURE - Philippe BIENVENU : Préparation des échantillons pour l’analyse de
combustibles nucléaires irradiés par SIMS
Anne Laure FAURÉ : Présentation de la méthode de préparation des échantillons par Vacuum
Impactor
Bernard BOYER : Partage d’expérience sur la préparation d’échantillons
Smaïl MOSTEFAOUI : Datation par 26Al d’un cast de la météorite de Paris
10h15 - 10h30 : Pause
10h30 - 12h : Présentation des nouveaux développements instrumentaux,
discussion sur les prospectives
Paula PERES - François HORREARD : Récents Développements dans la gamme SIMS Cameca
- «Atelier 1: utilisation pratique du logiciel WinCurve», par Paula Peres
- «Atelier 2: présentation et utilisation pratique du logiciel WinImage II», par François Horréard
12h - 13h30 : Pause déjeuner - Posters
13h30 - 15h15 : Visite
de l’Institut Jean Lamour
15h15 - 16h15 : Synthèse - Bilan des échanges des 2 journées.
Propositions sur le fonctionnement du groupe
Lieu et date de la prochaine rencontre
1ères journées francophones des
utilisateurs de sondes ioniques
Art Nouveau : Volubilis
NANCY - 2014