Rendez-vous d`information organisées par le LNE en 2016 : Forums

bulletin d’inscription
Forum annuel de la Métrologie – JT 1412
l a
renseignements pratiques
Société
NAF/APE
M/Mme/Mlle
Prénom
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Référence de la journée
Lieu
Service
Fonction
Adresse
Code Postal
Métro Porte de Versailles - Tramway T3 arrêt Georges Brassens
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Ville
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Tél.
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E-mail
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Siret
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règlement
Destinataire de la facture, si différent
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Pays
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Fax
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TVA
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Code promotionnel
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Frais de participation
1 jour : 350 € HT soit 420 € TTC
La participation aux frais comprend l’inscription aux conférences, les pauses-café, le repas pris en
commun et la remise d’un dossier technique.
Inscriptions
Vous pouvez vous inscrire au plus tôt par fax au +33 (0) 1 40 43 37 37 ou sur notre site internet
www.lne.fr à la rubrique Formation-Séminaires ou par email [email protected]
Vous nous envoyez par courrier le bulletin ci-contre, accompagné du règlement TTC des frais
d’inscription, à l’adresse suivante :
Cachet de l’entreprise
Laboratoire national de métrologie et d’essais
Centre de Formation
1, rue Gaston Boissier – 75724 PARIS CEDEX 15
Siret : 313 320 244 00012
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Merci de libeller votre chèque à l’ordre de l’Agent Comptable du LNE ou d’effectuer un virement
bancaire sur le compte ci-dessous :
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Personne à contacter
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Tél.
Date
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Signature
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Ci-joint un chèque de (correspondant au montant TTC de l’inscription, libellé à l’ordre de
l’Agent Comptable du LNE)
Laboratoire national de métrologie et d’essais
Centre de Formation
1, rue Gaston Boissier
75 724 PARIS CEDEX 15
00280
58381956001
04 CRCA PARIS C.AFF.RENNES
ou par fax
au 01 40 43 37 37
ou par e-mail
[email protected]
Domiciliation
Dans les 3 semaines précédant la journée, nous vous adressons une convocation, accompagnée
d’un plan d’accès. Après le déroulement de la journée, une facture est adressée à l’entreprise.
L’inscription ne donne pas lieu à l’établissement d’une convention de formation.
Contact
E-mail : [email protected]
Tél. +33 (0) 1 40 43 37 35 / Fax +33 (0) 1 40 43 37 37
€
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à retourner à
18206
Code Banque Code Guichet Numéro de Compte Clé
PARIS
20 nov.
2014
Forum annuel de la Métrologie - JT 1412 - 20 novembre 2014
Laboratoire national de métrologie et d’essais
1, rue Gaston Boissier – 75015 Paris – Tél. 01 40 43 37 00
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t e c h n i q u e
Laboratoire national de métrologie et d’essais
20 novembre 2014
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j o u r n é e
Forum annuel
de la Métrologie
::
aitriser au plus juste
M
vos résultats de mesure,
d’essais et d’analyse
Fo
rum
annuel
de
la
M
é t r o lo g i e
p r o g r am m e
– 20
n o v e m br e
A l’intention des
Responsables de laboratoire
Responsables d’essais
Responsables qualité
Techniciens de laboratoire et d’essais
Avec la participation de
BIOHIT
Consultants indépendants
LNE
11:00
Pause
Maîtriser sa mesure au plus juste et au
moindre coût.
La qualité, l’innovation et la performance
passent nécessairement par la maîtrise
des résultats de mesure (essais, analyse).
Tant que l’équipement n’a pas été raccordé
métrologiquement et déclaré apte à l’utilisation
prévue, la donnée qu’il affiche ne peut pas
être considérée avec certitude comme juste et
fidèle.
Le domaine de la métrologie a vu l’émergence
de méthodes rigoureuses visant à assurer la
fiabilité des mesures et la confiance à leur
accorder, telles que l’étalonnage, la vérification
métrologique par rapport à certaines
spécifications, les cartes de suivi et l’évaluation
des incertitudes de mesure.
La bonne connaissance de ces différentes
approches et stratégies de raccordement est
un point incontournable dans la maîtrise au
plus juste des résultats de mesure.
Au cours de cette journée technique dédiée à
la métrologie pratique en laboratoire,
vous assisterez à de nombreuses interventions
présentant et commentant des exemples
concrets de raccordement d’équipements
dans divers secteurs (sondes de températures,
enceintes thermiques, balances, pipettes, etc.).
Vous pourrez également, lors de séquences
dédiées, échanger avec des experts en
métrologie.
Le LNE, engagé dans la juste mesure,
répondra à toutes vos questions, et notamment
les suivantes :
Quels sont les critères pour choisir les
équipements de laboratoire ?
É talonner ou vérifier un équipement, quel choix ?
En cas de nécessité, l'organisation et le contenu
du présent programme peuvent être modifiés.
2014
uels sont les impacts d’un équipement non
Q
maîtrisé dans une production ?
Externaliser ou internaliser sa métrologie :
avantages et inconvénients?
11:00
09:00
Accueil des participants
09:30
Ouverture de la journée :
La métrologie au service de
l’innovation et de la compétitivité
Lionel DREUX, Directeur de la
Métrologie Scientifique et Industrielle,
LNE
09:45
Méthodes et stratégies pour la
maîtrise de la mesure
- Vocabulaire, référentiels, méthodes
- Étalonnage, vérification, EMT, Incertitude
Soraya AMAROUCHE, Expert Mesure
& Statistique, Direction de la Métrologie
Scientifique et Industrielle, LNE
10:30
Les capteurs de température
- Les différents types de capteurs
en fonction des besoins
- Les raccordements métrologiques :
pourquoi, comment ?
- Le suivi dans le temps de la performance
des capteurs
Carole BEAULIEU, Responsable du site
de Poitiers, Direction de la Métrologie
Scientifique et Industrielle, LNE
Les enceintes thermostatiques
- Les différents types d’enceintes
thermostatiques
- Caractérisation métrologique : pourquoi,
comment ?
- Les outils de suivi de la performance dans
le temps
B ernard CRETINON et Bertrand BLANQUART,
Experts « Enceintes » et auditeurs Cofrac,
Consultants indépendants
11:15
Table Ronde
- Évaluation de l’impact des équipements
sur le processus de mesure
- Retour d’expérience d’audits Cofrac
Animée par Soraya AMAROUCHE, avec la
participation de tous les intervenants
12:45
Déjeuner
j o u r n é e
14:15
Les pipettes et micro-pipettes
- Les différents types de pipettes
et micro-pipettes
- Caractérisation métrologique :
pourquoi, comment ?
- Le suivi de la performance dans le temps
Raphaël PAULIN, Directeur Qualité et
Technique, BIOHIT
t e c h n i q u e
16:00
Échanges avec les participants
- Métrologie et accréditation
- Métrologie et prise de décision
16:30
Conclusion de la journée
Soraya AMAROUCHE, Expert Mesure
& Statistique, Direction de la Métrologie
Scientifique et Industrielle, LNE
15:00
Les balances
- Les différents types de balances
(avantages et inconvénients)
- Raccordements métrologiques :
pourquoi, comment ?
- Le suivi de la performance dans le temps
Tanguy MADEC, Expert en métrologie
des masses, Direction de la Métrologie
Scientifique et Industrielle, LNE
15:45
Pause
16:45
Fin de la journée