Analyse de couverture

ASTER annonce le premier logiciel DfT qui combine
l’analyse électrique et mécanique.
Communiqué de presse :
APEX 2010 au Convention Center de Las Vegas, 6-8 Avril 2010
A l’occasion du salon APEX 2010, ASTER Technologies, le leader en analyse de testabilité et
de couverture de test des cartes électroniques, présente le premier logiciel Design for Test (DfT) qui
combine l’analyse électrique et mécanique. Il a été développé pour répondre à une nouvelle vision du
marché. Les concepteurs de cartes électroniques et les sous-traitants de fabrication doivent, ensemble,
relever de nombreux défis : compression des cycles de développement, réduction des budgets et
amélioration constante de la qualité des produits.
TestWay, la référence mondiale en analyse de couverture de test, permet à ses utilisateurs de
quantifier et qualifier la couverture pour de nombreux équipements de test et d'inspection. Cet outil a
été refondu pour aborder les problèmes que rencontrent les concepteurs et les sous-traitants en
fabrication qui souhaitent optimiser les accès physiques pour le test, tout en maintenant une
couverture de test maximale.
Fig 1: TestWay – Probe Analyzer
“Probe Analyzer” est un logiciel interactif, piloté par règles d’analyse mécanique
spécifiquement conçues pour assister les ingénieurs de conception et les développeurs de test. Il
identifie rapidement les surfaces de cuivre utilisables comme accès physiques. Taille des surfaces
ciblées, contrôle des distances, assignation des points de test, optimisation de la taille des clous, offset
sur les broches, BeadProbes de Agilent sont supportés en parfaite harmonie avec les règles internes
des industriels.
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Dès que le placement des points de test a été réalisé, TestWay combine cette information avec
les capacités de mesure de l’équipement ciblé, pour estimer la couverture pour le test ICT ou FPT.
TestWay génère un rapport détaillé d’accessibilité physique précisant la position du point de test
retenue, ou les violations des règles interdisant l’utilisation de certains points. Le rapport est interactif
avec le visualisateur de layout qui présente, sous forme de code de couleur, les équipotentielles non
testables.
TestWay procède à une analyse de couverture de test très sophistiqué qui permet de décrire la
ligne de production en combinant les tests ICT (In-Circuit Test) ou FPT (Flying Probe Test) avec des
techniques d’inspection ou de test telle que AOI (Automated Optical Inspection), AXI (Automated XRay Inspection), BST (Boundary-Scan Test) ou test fonctionnel. Il estime la couverture avant le
développement des tests en identifiant les zones où l’efficacité est limitée compte-tenu de la violation
de règles DfT électriques.
L’estimation de la couverture basée sur l’analyse des contraintes mécaniques de
positionnement des points de test, accroît la visibilité sur la performance réelle des tests qui pourront
être développés.
“Dans le monde nouveau de l’électronique où ceux qui conçoivent ne sont plus ceux qui
produisent, nous avons besoin de nouveaux outils qui facilitent la compréhension des deux groupes.
Avec TestWay Probe Analyzer, les concepteurs de cartes et les développeurs de tests pourront
identifier en quelques minutes les contraintes d’accès physiques et mesurer immédiatement les
conséquences en terme de couverture de test.” explique Christophe Lotz, Directeur d’ASTER.
ASTER propose une large gamme de produits couvrant l’analyse DfT et la couverture de test.
Le client peut démarrer avec une configuration qui répond à ces problèmes immédiats et pourra
ultérieurement évoluer vers des fonctions plus sophistiquées. TestWay est un produit hautement
configurable depuis TestWay Express pour l’analyse de couverture théorique (a priori) ou réelle (a
posteriori à partir des programmes de test), jusqu’à la version TestWay-Classic qui ajoute un
environnement programmable en mesure de supporter les règles “utilisateur”, les critères
d’optimisation des programmes de test, le reporting avancé et la génération des données pour les
testeurs Boundary-Scan.
A propos d’ASTER Technologies
Fondé en 1993, ASTER développe un ensemble de produits traitant de la testabilité, de
l’analyse de couverture de test, de la visualisation du schéma électrique et du placement routage, de la
gestion qualité et de l’aide à la réparation des cartes électroniques en production. TestWay est une
solution validée, largement déployée dans le monde entier qui fournit une approche unique pour tenir
compte des exigences de test très tôt dans la chaîne de conception.
Pour de plus amples informations sur la société et ses produits, visitez www.aster-technologies.com
ou appelez ASTER au +33 (0)299 83 01 01.
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